【虹科应用】虹科高速数字化仪在高压测试领域中的应用-电子发烧友网

高压测试应用背景

高压存在于各种地方，包括配电网络，检测光或粒子的组件（例如光电倍增器和电子倍增器），发射光或颗粒的元件（例如卤素球和阴极射线管），变压器，高功率接收器和发射器，汽车点火系统以及各种自然发生的现象，如闪电和表现出静电行为的物体。高压的使用和研究非常重要，因为它对于了解电力的传输方式（配电中的关键参数）以及组件在不同条件下的性能至关重要。

#虹科方案

虹科数字化仪非常适合用于高压测试系统，因为它具有广泛的采样速率、带宽和分辨率。例如，高压冲击测试通常需要较大的动态范围和最大的灵敏度。虹科提供高分辨率 14 位和 16 位数字化仪，可以捕获和分析频率内容高达 250 MHz 的信号。这些高分辨率卡具有出色的信噪比（高达72 dB）和无杂散动态范围（高达90 dB），因此可以检测和分析最小的信号变化。此外，它们具有完全缓冲的前端电路和校准的增益范围，可以轻松调整满量程输入范围以匹配被测信号。对于更高的频率，可提供8位数字化仪，提供高达5 GS/s的采样率和1.5 GHz带宽。

这些数字化仪提供多种流行的标准，包括 PCI、 PCIe、 PXI 和 LXI。PCI和PCIe卡可以直接安装在台式PC上，而LXI仪器可以与笔记本电脑一起使用，也可以在任何可以连接到局域网（LAN）的地方使用。数字化仪具有大型板载存储器（单卡多达 4 Gsamples）以及数据流和读出模式，是捕获长而复杂信号的理想选择。将数据从数字化仪传输到存储系统还可以存档数小时的信息。虹科的SBench 6软件可以提供完整的仪器控制，以及查看、存储和鉴定信号的简便方法。FFT可用于频域分析，参数计算可用于测量关键信号特性，如幅度、斜率、脉冲宽度等。