ESD(Electrostatic Discharge)测试,即静电放电测试,是所有电子设备必须要通过的测试,其目的是仿真操作人员或物体在接触设备时产生的放电以及人或物体对邻近物体之放电,以检测被测设备抵抗静电放电之干扰能力。
比较通用的一个测试标准是国际电工委员会(IEC)于1995年制定的 IEC 61000-4-2。
IEC 61000-4-2定义,ESD分为直接放电和间接放电。
直接放电,即利用放电点击直接对受试设备实施放电,其中又分为接触放电(Contact Discharge)和空气放电(Air Discharge)。
间接放电,即对受试设备附近的耦合板实施放电,以模拟人体对受试设备附近的物体的放电。
淘晶驰电子生产的串口屏通过ESD测试IEC 61000-4-2:2001的标准。有更高需求的客户也可定制更高标准。
声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。
举报投诉
-
ESD
+关注
关注
46文章
1818浏览量
171181 -
串口屏
+关注
关注
8文章
474浏览量
36621
发布评论请先 登录
相关推荐
PCB工作地与金属外壳连接对ESD干扰影响的实例分析
图中有两条ESD共模干扰路径,即图中左边ICM1所在路径和右边ICM2路径。
很明显,第二条干扰路径才是ESD测试不通过的主要原因。
发表于 03-05 10:28
•451次阅读
电磁兼容测试是干啥的 影响emc测试的因素有哪些
ESD测试用于检验设备对静电放电的抵抗能力,如人体静电放电或静电放电设备引起的放电。这项测试可以确保设备在实际使用时不会受到静电干扰的影响。
如何防止静电放电损伤呢?ESD的测试方法解析
NMOS我们通常都能看到比较好的Snap-back特性,但是实际上PMOS很难有snap-back特性,而且PMOS耐ESD的特性普遍比NMOS好,这个道理同HCI效应,主要是因为NMOS击穿时候产生的是电子,迁移率很大,所以Isub很大容易使得Bulk/Source正向导通,但是PMOS就难咯。
发表于 10-26 10:16
•907次阅读
ESD电流路径的分析
好像任何一个行业的EMC都离不开ESD测试, ESD问题排查中,最重要最难的无疑是静电路径问题了。 本次就和大伙稍微探讨下ESD电流路径的分析,哪怕在为大家排查静电问题的时候提供一丝丝
电容在ESD整改中的应用
电容是构成电路的基本器件之一,也是在EMC整改手段中最便利、最有效和成本最低的手段之一。而在ESD测试中,我们会遇到一些比较明显的测试现象,比如机器重启或者屏幕闪屏,而这些现象有时候只需要加一个电容就能解决。本篇文章就电容的这个
发表于 10-09 11:29
•344次阅读
AEC--Q中的ESD测试
什么是ESDESD(Electro-Staticdischarge)的意思是"静电放电"。静电是一种自然现象,它可以通过接触、摩擦、电器间感应等方式产生。由于多种因素的影响,静电
以EMC中ESD测试讲述电容的选择应用
EMC设计过程中,常用的思路包括“堵”和“疏”,电感,磁珠通常用于“堵”,而电容器通常用于“疏”,个人觉得“疏“比”堵”更加可靠
发表于 08-01 15:06
•808次阅读
验证电子产品强度:使用ESD静电发生器进行ESD测试
随着电子产品发展的快速,如何保证电子组件的强度不仅仅受到生产商和消费者的重视,而且在全球面前的价值越来越大。有效的测试可以有效地提高电子产品组件的可靠性和稳定性,帮助用户和生产商减少遭受的费用。在这种背景下,ESD测试成为提高电
常见液晶品类别有哪些 车规级显示屏与消费级显示屏的区别
无论是消费品和车载品,信赖性测试是必不可少的,只有通过信赖性测试,才能验证产品是否有较优的质量水平,确保客户有较好的使用体验;二者共通的环境类测试项目主要有:高温存储、低温存储、冷热冲击、高温动作、低温动作、高温高湿;机械类
发表于 07-14 11:16
•3081次阅读
S32K3在ESD测试时保持运行,PLL_LOL时cpu时钟可以切换到FIRC吗?
我们发现S32K312在做([i]ESD )[i]空气放电 ±15kV测试 时会复位。我们发现复位原因是 PLL_LOL。然后我们用NXP S32K312EVB-Q172做同样的测试,它也会复位
发表于 05-30 06:49
评论