0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

电源快速脉冲群EFT和静电测试ESD不通过怎么办?

chan 来源:jf_64241911 作者:jf_64241911 2023-03-09 09:45 次阅读
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

电快速瞬变脉冲群抗扰度试验概述

电快速瞬变脉冲群产生的原理如下:当电感性负载(如继电器、接触器等)在断开时,由于开关触点间隙的绝缘击穿或触点弹跳等原因,在断开处产生的瞬态骚扰。当电感性负载多次重复开关,则脉冲群又会以相应的时间间隙多次重复出现。这种瞬态骚扰能量较小,一般不会引起设备的损坏,但由于其频谱分布较宽,所以会对移动电话机的可靠工作产生影响。

该试验是一种将由许多快速瞬变脉冲组成的脉冲群耦合到移动电话机的电源端口的试验。试验脉冲的特点是:瞬变脉冲上升时间短、重复出现、能量低。该试验的目的就是为了检验手机在遭受这类暂态骚扰影响时的性能。一般认为电快速瞬变脉冲群之所以会造成手机的误动作,是因为脉冲群对线路中半导体结电容充电,当结电容上的能量累积到一定程度,便会引起手机的误操作。具体表现为在测试过程中移动电话机通信中断、死机、软件告警、控制及存储功能丧失等。

pYYBAGQJObmAIRnpAAFOdOaiCwg164.png

电快速瞬变脉冲群抗扰度试验常见问题分析

电快速瞬变脉冲波形通过充电器直接传导进手机,导致主板电路上有过大的噪声电压。当单独对火线或零线注入时,尽管是采取的对地的共模方式注入,但在火线和零线之间存在差模干扰,这种差模电压会出现在充电器的直流输出端。当同时对火线和零线注入时,存在着共模干扰,但对充电器的输出影响并不大。造成手机在测试过程中出现问题的原因是复杂的,具体表现为以下几方面。

(1)前期设计时未考虑电快速瞬变脉冲群抑制功能,没有添加相关的滤波元器件PCB设计综合布线时也没有注意线缆的隔离,主板接地设计也不符合规范,另外关键元器件的也没有采取屏蔽保护措施等;

(2)生产厂在元器件供应商的选择上没有选用性能可靠的关键器件,导致测试过程中器件老化或者器件失效,从而容易受到电快速瞬变脉冲的干扰;在整机生产组装过程中,加工工艺及组装水平出现的问题可能会导致产品一致性不好,个别送检手机存在质量问题;

(3)检测过程中由于其他测试项出现问题导致整改,可能由于整改方案的选择会影响到电快速瞬变脉冲群测试不合格。

电快速瞬变脉冲群抗扰度试验相关问题的改进建议

针对电快速脉冲群干扰试验出现的问题,主要可以采取滤波及吸收的办法来实现对电快速瞬变脉冲的抑制。

(1)在手机设计初期就应重点考虑抑制电快速瞬变脉冲群干扰设计。

PCB层电源输入位置要做好滤波,通常采用的是大小电容组合,根据实际情况可以酌情再添加一级磁珠来滤除高频信号,尽量采用表面封装;

尽量减小PCB的地线公共阻抗值;

PCB布局尽量使干扰源远离敏感电路;

PCB的各类走线要尽量短;

减小环路面积;

在综合布线时要注意强弱电的布线隔离、信号线与功率线的隔离。综合布线是系统很重要的一个设计组成部分,一个糟糕的综合布线格局很可能断送一个设计精良的PCB的稳定性;

关键敏感芯片需要屏蔽;

软件上应正确检测和处理告警信息,及时恢复产品的状态。

(2)元器件的选择上应使用质量可靠的芯片,最好做过芯片级的电磁兼容仿真试验,质量可靠的充电器、数据线及电池的选用可提升对电快速瞬变脉冲信号的抑制能力;

(3)厂家在组装生产环节中应严把质量关,做好生产工艺流程控制,尽量保证产品质量的一致性,减少因个别手机质量问题带来的测试不合格现象;

(4)EFT测试过程中如出现问题,可采用在充电器增加磁环或者电快速瞬变脉冲群滤波器的方法进行整改,选用磁珠的内径越小、外径越大、长度越长越好。采用加TVS管的整改方法作用有限;

(5)根据最新GB/T 17626.4-2008标准要求,重复频率将增加100 kHz选项,将会比5 kHz更为严酷,厂家应及早重视进行相关的电快速瞬变脉冲群测试防护工作。

审核编辑 黄宇

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • 电源
    +关注

    关注

    185

    文章

    18709

    浏览量

    261403
  • ESD
    ESD
    +关注

    关注

    50

    文章

    2375

    浏览量

    178866
  • EFT
    EFT
    +关注

    关注

    0

    文章

    54

    浏览量

    22859
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

    评论

    相关推荐
    热点推荐

    高速数据线的ESD防护利器——ESD1014

    在电子设备的设计中,静电放电(ESD)、电气快速瞬变(EFT)和雷击等问题一直是工程师们需要重点关注的对象,因为它们可能会对高速数据线造成严重的损害,影响设备的正常运行。今天,我们就来
    的头像 发表于 12-02 09:29 300次阅读
    高速数据线的<b class='flag-5'>ESD</b>防护利器——<b class='flag-5'>ESD</b>1014

    ESD测试的详细解释

    解释: 01 定义与目的 ● 定义:ESD测试是模拟操作人员或物体在接触设备时产生的放电,以及人或物体对邻近物体之放电,以检测被测设备抵抗静电放电之干扰能力。 ● 目的:通过
    发表于 11-26 07:37

    博众测控 | EMC测试不通过?问题到底出在哪?从瞬态干扰说起

    在现代电子系统中,电源设备不仅可能是电磁干扰的传播源,还可能是外部干扰的敏感接收端。特别是在面对浪涌、静电放电、突发脉冲等瞬态干扰时,电源设备的抗扰能力直接决定了整机系统的可靠性。
    的头像 发表于 11-07 17:41 2160次阅读
    博众测控 | EMC<b class='flag-5'>测试</b><b class='flag-5'>不通过</b>?问题到底出在哪?从瞬态干扰说起

    工业电子设备浪涌静电保护器件选型清单 超全面

    静电放电(ESD)和电快速瞬变脉冲EFT)是对仪器仪表系统造成危害的主要瞬态干扰类型。许多信
    的头像 发表于 10-13 17:09 414次阅读
    工业电子设备浪涌<b class='flag-5'>静电</b>保护器件选型清单 超全面

    rt-thread stm32 BSP编译不通过,缺乏HAL库怎么处理?

    拉取gitee上关于rt-thread master分支的代码进行BSP/stm32f407部分编译时,使用env编译不通过,提示缺乏Libraries下的HAL,这部分我看是缺乏的,然后分支v5.1.0是有的,
    发表于 09-15 07:35

    rt-thread stm32 BSP编译不通过怎么解决?

    拉取gitee上关于rt-thread master分支的代码进行BSP/stm32f407部分编译时,使用env编译不通过,提示缺乏Libraries下的HAL,这部分我看是缺乏的,然后分支v5.1.0是有的,
    发表于 08-29 07:36

    浪涌测试脉冲测试ESD测试的对比

    1. 浪涌测试(Surge Test) 1.1 测试目的 模拟 雷击、电网切换、大功率设备启停 等高能量瞬态干扰,验证电源模块的耐高压冲击能力。 1.2 测试波形 组合波(1.2/50
    的头像 发表于 08-12 21:46 930次阅读

    ESD保护器件LESD5Z5.0C系列规格书

    器件经过特殊设计,可保护连接数据线和传输线的敏感元件,防止因静电放电(ESD)、电缆放电事件(CDE)和电快速瞬变(EFT)引起的过电压损害。
    发表于 07-07 17:06 0次下载

    脉冲衰减器检验电快速瞬变脉冲群发生器的脉冲电压波形

    模拟器的性能。EFT(电快速瞬变)抗扰度测试是一种将由多个快速瞬变脉冲组成的
    的头像 发表于 05-28 10:11 786次阅读
    用<b class='flag-5'>脉冲</b><b class='flag-5'>群</b>衰减器检验电<b class='flag-5'>快速</b>瞬变<b class='flag-5'>脉冲</b>群发生器的<b class='flag-5'>脉冲</b>电压波形

    FPGA的Jtag接口烧了,怎么办

    在展开今天的文章前,先来讨论一个问题:FPGA的jtag接口烧了怎么办?JTAG接口的输入引脚通常设计为高阻抗,这使得它们对静电电荷积累非常敏感,由于JTAG接口需要频繁连接调试器、下载线缆等外
    的头像 发表于 04-27 11:01 2128次阅读
    FPGA的Jtag接口烧了,<b class='flag-5'>怎么办</b>?

    浅谈静电放电(ESD)测试

    方式引发。ESD的特点是电荷积累时间长、放电电压高、涉及电量少、电流小且作用时间极短。 静电测试ESD)有哪些方式 ESD
    的头像 发表于 03-17 14:57 2515次阅读

    用低钳位电压ESD解决精准保护IC问题

    上海雷卯经常接到客户求助:“我电路加了ESD二极管 ,并且是大品牌的,为什么静电还是不通过,导致后端的芯片烧了”,“死机了”,“这怎么办,您帮我想想办法”等等问题。 EMC小哥针对这种
    的头像 发表于 01-21 17:24 1159次阅读
    用低钳位电压<b class='flag-5'>ESD</b>解决精准保护IC问题

    开关电源漏电怎么办?开关电源漏电流标准是什么?

    流标准是多少?下面我们了解一些开关电源故障处理,这样我们就知道开关电源漏电怎么办怎么处理了。 开关电源漏电怎么办   开关
    发表于 01-09 13:59

    救助,定义一个大一点的数组导致编译不通过问题。

    本例使用 CSU-IDE V6.0.6 ,单片机为CSU38F20,发现在改大数组的时候编译不通过,请各位大神指教。具体问题描述如下: 正常情况: 串口收发缓冲区定义小一点没有问题,如下
    发表于 01-01 15:43

    使用ADS1298的12导联心电记录仪绝缘耐压测试,绝缘耐压测试不通过是什么原因呢?

    请教一下,一款使用ADS1298的12导联心电记录仪,绝缘耐压测试不通过测试方法是 ,导联线电极与电池供电极之间,电池取下,500V耐压测试fail,加电压就报漏电流超标警告; A
    发表于 12-17 06:22