ESD的概念想必大家都非常清楚,即两个物体之间的电荷的转移,当两个物体之间直接接触或者相互靠近发生介质击穿时,就会产生静电放电。
而TLP(传输线脉冲测试Transmission-line pulse -TLP)是一种通过测量时域的电流和电压来研究集成电路的及其特性的ESD测试方法。
下面详细介绍一下TLP测试相关的知识:

TLP脉冲发生器的基本结构:长度为L的充电线(TL1),开关S1和高压电源(Vo)。
A、充电线的长度决定了脉冲的宽度;
B、标准TLP的典型值为100ns脉冲宽度,1ns的上升时间;
C、逐步增加脉冲幅度,直到DUT出现故障或者达到最大的电压;
D、DUT的故障通常通过DC漏电流来判断
E、通常读取脉冲时间70%到90%的时间。

使用TLP测试出来的I-V曲线

动态阻抗是ESD保护器件的一个非常重要的参数,动态阻抗越低,表明更多的ESD电流会流经保护器件,更少的电流会流经被保护设备。
动态阻抗的定义:dv/dI
一般TVS的动态阻抗为几百mohm到几ohm,而多层压敏电阻-对于低电容设备,有几ohm或者更高的阻抗。
审核编辑:刘清
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