迪赛康科技推出全新差分测试可调间距探针

迪赛康科技(深圳)有限公司一直专注于高频、高速相关的产品研发，已经陆续推出全系列接口高速测试夹具，多款同轴连接器，高频高速线缆和测试探针等高速相关产品，并申请专利。

最近研发出一款最新的差分测试可调间距探针，非常适用于信号完整性验证、芯片评估、共面波导、电路调试及测试装置用途，配合探针台和网络分析仪，基本可以做到高速信号测试无死角(阻抗，损耗哪里不对点哪里)。

差分仿真模型及仿真结果：

通过控制差分探针SS之间的距离，将探针针尖位置阻抗优化至100±1ohm(Tr=35ps)，且实现本款可调间距的差分探针在0.05~5.0mm范围内调整间距时，探针针尖阻抗波动在100±2ohm以内，40GHz回损满足18dB。

我们推出的这款探针具有宽频带、精阻抗、高性价比、高可靠性等特点，精细研磨，特制倒角，有效解决ACP探针测试堆金问题，高可靠性测试，无缝隙覆盖DC~40GHz，产品统一采用标准安装接口，GSSG间距可调触点形式，触点尺寸50um，可通用适配多种探针台、探针臂，适用于微波集成电路在片测试、管结参数提取、MEMS产品测试及片上天线测试等领域。

注：以上S参数测试结果包括两个差分探针，一个差分探针插损测试结果应该为上图测试结果的一半。

迪赛康差分探针参数

1. 阻抗特性：100Ω±2%

2. 引出角度： 45°

3. 信号形式：GSSG

4. 触点间距：可调间距

5. 触点宽度：50um

6. 接触电阻：30mΩ

7. 工作温度：-55~125°

外形尺寸：

注意事项：探针头部结构都为精密零件，测试时必须配合探针台使用!

我们很高兴能够将此探针产品推向市场，并为当下该领域内的技术难题提供一种新颖独特的解决方案。有了这款性能已得到验证的产品，客户无需再使用当前作为权宜之计的临时探针，而且测试人员可实现控制性和可重复性更高的测试。

原文标题：一款高性能、差分可调间距测试探针(GSSG)

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审核编辑：汤梓红