是德科技系统样机将开放实验室展示

是德科技开放实验室主题日（Application Focus Day）从2012年正式举办以来，是德科技北京/上海/深圳/成都四个实验室为各个地区的用户每年都带来10场以上的技术专题活动。开放实验室主题日的目的是向用户展示是德科技最高性能的测试设备，最先进的测试手段，为产品验证最佳的测试方案。主题日一直受到广大用户的支持和好评，在业界得到了非常好的口碑，也创造了是德科技开放实验室的一个品牌形象。

电源模块是电子产品心脏，70%以上的电子产品损坏都来自于电源部件，而功率开关器件则是电源模块中最容易损坏的元器件。

为了选择更好的功率开关器件，或者寻找器件损坏的原因，详细的测试其静态（B1505A/B1506A）和动态参数极为重要。特别是宽禁带器件（SiC，GaN）的发展和广泛应用，开关速度越来越快，器件的开关损耗超过静态损耗成为主要功耗来源，器件的动态参数也成为评估器件性能的重要参数，宽禁带器件快速的开关速度给动态参数测试带来了极大的挑战。

动态参数测试系统要求极低的回路电感、足够的示波器/探头和连接线带宽、高精度和可重复的测试结果以及安全的测试环境。是德科技于2019年下半年在原先IGBT和SiC/SiMOSFET PD1500A双脉冲测试平台基础上推出GaN MOSFET动态参数测试系统,目前已经在诸多功率器件厂商、测试实验室、高校和研究所中广泛使用。

该系统样机于2021年5月17日下午到5月21日下午在成都开放实验室展示，以支持川渝地区功率器件产业的发展。可以支持客户TO247和D2PAK 封装IGBT，Si/SiC MOSFET，TO-220封装 CASCODEGaN MOSFET的测试，演示GaN System GS66508B、英诺赛科INN650D02等GaN MOSFET的实际测试，交流动态参数测试技术等。

PD1500A 测试项目：

开关特性（开关时间，延迟，能量，开关曲线等）

反向恢复特性（时间，电流，能量等）

Qg

IV曲线

短路测试，雪崩测试（coming soon）

原文标题：是德科技开放实验室主题日: PD1500A 动态参数测试系统应用及演示 (成都，5月17日~21日）

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责任编辑：haq