浅析RI266可编程滤波器在5G NR辐射杂散测试场景的应用

杂散发射指的是在必要带宽之外的一个或多个频率上的发射，其发射电平可以降低而不致影响相应信息的传输。杂散发射包括谐波发射、寄生发射、互调发射及变频产物，但带外发射除外。辐射杂散主要是由于机箱（或机柜）以及设备的结构而引起的任何杂散发射 通信产品的发射机输出信号通常为大功率信号，在产生大功率信号的过程中可能会在发射信号的频带之外产生较高的杂散。

如果杂散落入某个系统接收频段内的幅度较高，则会导致接收系统的输入信噪比降低，造成通信质量恶化，这就是所谓的杂散干扰。目前所有通信产品的射频测试，包括但不限于2G/3G/4G/5G产品都需要测量杂散指标。对无线电管理工作来说，杂散发射是产生干扰的重要原因，所以在无线电发射设备检测中，辐射杂散发射是一个重要的必测项目

测试场景1 - RI266 滤波器部署在暗室外

测试场景2 - RI266滤波器部署在暗室内 在上图杂散测试中，工作频率信号过大会影响到杂散信号的测量，所以需要使用滤波器对工作频率信号进行抑制。本文中滤波器选用Ranatec的RI266可编程陷波器，主要用来实现对主频的抑制，同时确保阻带带外插入损耗足够小。测试系统中配备的RI4276内置高低通滤波器，用于配合RI266实现频率扩展。 ➢ RI266可编程陷波器主要技术指标：

➢ RI4276高低通扩频单元： 目前该套测试方案，已在某检测中心完成链路适配和测试验证，该中心自研辐射杂散测试系统已集成加入了RI266可调陷波滤波器，目前266和4276仪表控制协议已完成适配，该系统整合正在做最后的部署，辐射杂散测试系统未来将惠及各大实验室。 下面是266仪表各性能指标截图： 传导底噪：

5G NR信号抑制：

使用RI266可调滤波器方案后： ➢确保了输入频谱仪的电平能控制在最佳幅度，避免了失真、假响应、过载、底噪淹没被测信号等现象的出现，使辐射杂散测试变得更加准确； ➢可调滤波器组可随测试频段的不同而灵活调整陷波中心频点，使测试实施变得更加灵便； ➢ RI4276高低通单元实现26.5GHz的测量频域，并预留了扩展接入。

编辑：jq