#半导体 #测试 #曲线追踪 #分立器件测试系统 #仪器仪表 曲线追踪测试

一、核心技术特性 ‌ 高精度测试能力 ‌ 电压测试范围覆盖0-3300V（可扩展），分辨率达1mV；电流测试范围0-2500A，分辨率最低至0.1nA，测试精度控制在0.2%+2LSB 采用脉冲测试法（脉宽300μs-5ms）抑制温升，结合Kelvin四线消除接触电阻误差，确保大功率器件极限参数准确性 ‌ 高效智能化操作 ‌ 单参数测试速度达0.5ms/参数，百点I-V曲线生成仅需数秒 支持自动分档编程与16Bin分选机对接，量产测试效率达10,000件/小时 ‌ 全兼容测试范围 ‌ 覆盖硅基器件至第三代