![[5.3.1]--反常短沟道效应4.1.4窄沟道效应4.1.5漏感应势垒_clip002](https://file1.elecfans.com/web2/M00/88/F3/wKgaomR3HyqAYcF7AADLHAWzHOs573.png)
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博微BW-4022A测试现场 不同封装半导体器件测试座更换及现场测试（简便/高效/可靠） 与分选机/探针台联机
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