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瑞斯特半导体

RSTTEK瑞斯特半导体是一家专注于功率半导体器件研发、设计与销售的科技企业,致力于为全球客户提供高性能、高可靠性的功率器件解决方案。

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瑞斯特(RST) LR015N11ST10-RST 110V低内阻大电流TOLL功率MOSFET技术解析‌

型号: LR015N11ST10-RST
品牌: (瑞斯特)

--- 数据手册 ---

--- 产品详情 ---

LR015N11ST10-RST是瑞斯特(RST)推出的110V等级N沟道增强型功率MOSFET,基于SGT屏蔽栅工艺制造,采用TOLL无引脚贴片封装。器件的技术指标围绕大电流低压功率系统展开:VGS=10V、ID=40A测试条件下导通电阻RDS(on)典型值仅1.3mΩ、上限1.5mΩ,结合168nC的栅极总电荷形成低损耗品质因数;漏源击穿电压V(BR)DSS最低110V,持续漏极电流在Tc=25℃与100℃下分别达353A与235A,脉冲漏极电流上限1476A,单脉冲雪崩能量EAS高达2916mJ(L=0.5mH、RG=25Ω),为感性负载关断与异常过压工况提供了充裕的耐受裕量,数据手册明确推荐其用于电机控制与驱动、电池管理、DC/DC变换器及通用功率应用。

极限参数与电气特性方面,栅源电压范围±20V,最大功耗329W(Tc=25℃),工作结温与存储温度覆盖-55℃至150℃宽温域。静态特性上,栅极阈值电压VGS(th)为2.0V至4.0V(典型3.2V),零栅压漏电流IDSS最大1μA、栅源漏电流IGSS上限±100nA,阻断状态功耗极低;正向跨导gFS典型值174S(VDS=5V、ID=40A)。动态特性按VDS=40V、1MHz标定——输入电容Ciss典型10208pF、输出电容Coss 4768pF、反向传输电容Crss仅80pF,栅极电阻RG典型1.6Ω;开关时间方面,ID=40A、VGS=10V、RG=1.8Ω条件下,开通延迟38ns、上升时间64ns、关断延迟84ns、下降时间39ns,开关周期整体处于百纳秒级,适合中高频硬开关与软开关拓扑;栅源电荷Qgs 61nC、栅漏电荷Qgd 42nC,为驱动功率与开关损耗估算提供了量化依据。

体二极管与热特性方面,器件内置续流二极管,正向压降VSD最大1.1V(ISD=50A),反向恢复时间trr典型113ns、反向恢复电荷Qrr典型270nC(ISD=50A、di/dt=100A/μs),软恢复特性有助于抑制桥式拓扑中的换向尖峰与振铃。热学参数上,结壳热阻RthJC典型仅0.3℃/W、上限0.38℃/W,结到环境热阻典型35℃/W,配合TOLL封装的大面积底部漏极焊盘,可将大电流导通损耗高效传导至PCB铜箔或外置散热结构;TOLL无引脚构型相比传统有引脚封装寄生电感更低、散热路径更短,适合高密度功率布局。供货采用24mm宽编带与330mm卷盘,单卷2000只,完全兼容自动化高速贴片产线。

从工程落地视角看,该器件适合承担低压大电流功率级的核心开关职能:电机控制与驱动方面,353A的持续电流能力与1476A的脉冲电流可从容应对三相逆变桥臂的满载运行与启动瞬态冲击,1.3mΩ的低导通内阻显著压缩通态损耗与散热成本;电池管理系统方面,110V耐压档位适配48V级车载与储能系统母线,宽温域工作范围满足动力电池包的热环境要求;DC/DC变换器方面,168nC的低栅极电荷与百纳秒级开关速度支持同步整流、Buck/Boost等拓扑在较高开关频率下工作,从而缩小磁性元件体积;2916mJ的雪崩能量耐受能力则为电机堵转、短路保护等瞬态过压场景提供了可靠的后端保障,是面向低压大功率密度应用的110V级功率开关优选器件。

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