企业号介绍

全部
  • 全部
  • 产品
  • 方案
  • 文章
  • 资料
  • 企业

芯矽科技

专业湿法设备的制造商,为用户提供最专业的工艺解决方案

111 内容数 5.8w 浏览量 3 粉丝

单片式晶圆清洗机 高效节能定制化

型号: dpsjyqxj

--- 产品参数 ---

  • 非标定制 根据客户需求定制

--- 产品详情 ---

单片式晶圆清洗机是半导体工艺中不可或缺的设备,专为解决晶圆表面污染物(如颗粒、有机物、金属杂质)的高效清除而设计。其核心优势在于单片独立处理,避免多片清洗时的交叉污染,显著提升良品率,尤其适用于先进制程(如5nm以下芯片)的严苛需求。

核心技术原理

设备通过化学腐蚀+物理冲洗结合的方式实现清洗:

  1. 化学工艺:采用RCA标准液(SC-1、SC-2)、兆声波(SFP)或去离子水(DI Water),针对不同污染物(如光刻胶、氧化层)选择性去除;
  2. 物理冲洗:旋转喷淋系统实现360°均匀覆盖,配合离心力或氮气吹扫快速干燥,确保无水渍残留。

核心优势

  1. 超高精度:表面洁净度达≤10颗/平方厘米(≥0.1μm颗粒),满足12寸晶圆要求;
  2. 全自动智能化:机械臂自动上料/清洗/干燥,PLC+物联网监控参数(温度、流速),数据可追溯;
  3. 节能环保:封闭式废液回收系统减少化学消耗,加热模块能耗降低30%;
  4. 定制化:支持特殊工艺(如CMP后清洗、化合物半导体处理),腔体材质可选PFA/石英。

应用领域

  • 集成电路:光刻胶去除、栅极氧化层清洗、金属布线去污;
  • MEMS器件:微结构释放后的清洁;
  • 功率半导体:SiC/GaN晶圆表面预处理;
  • 封装测试:芯片粘结前活化与清洗。

行业价值

  • 提升良品率:高效清除污染物,降低缺陷率(如颗粒划痕、氧化残留);
  • 适配先进制程:支持5nm以下节点清洗工艺,助力国产替代;
  • 降本增效:自动化减少人力依赖,废液回收降低耗材成本。

未来趋势

  • AI驱动:集成机器学习优化清洗参数,实现“工艺自适配”;
  • 绿色技术:开发零排放清洗方案(如超临界水技术);
  • 新材料适配:针对碳化硅(SiC)、氮化镓(GaN)优化工艺。

单片式晶圆清洗机凭借高精度、自动化、定制化特性,成为半导体制造的核心竞争力之一。随着制程进步与国产设备技术突破,其在保障芯片良率、推动产业自主化中的作用愈发关键。

为你推荐

  • 如何检测晶圆清洗后的质量2025-11-11 13:25

    检测晶圆清洗后的质量需结合多种技术手段,以下是关键检测方法及实施要点:一、表面洁净度检测颗粒残留分析使用光学显微镜或激光粒子计数器检测≥0.3μm的颗粒数量,要求每片晶圆≤50颗。共聚焦激光扫描显微镜可三维成像表面形貌,通过粗糙度参数评估微观均匀性。有机物与金属污染检测紫外光谱/傅里叶红外光谱:识别有机残留(如光刻胶)。电感耦合等离子体质谱:量化金属杂质含量
    168浏览量
  • 晶圆清洗甩干后有水斑怎么回事2025-11-11 13:24

    圆清洗甩干后出现水斑,可能由以下原因导致:水质问题:若使用的水中含有较多矿物质(如钙、镁离子),甩干时水分蒸发后,矿物质会残留形成白色或灰白色的水斑。表面材质特性:若圆的材质(如金属、玻璃等)表面存在细微孔隙或涂层不均匀,水分渗入后难以完全排出,干燥过程中残留的水渍会形成斑点。甩干不彻底:甩干时间不足或转速不够,导致部分水分未被完全脱离,残留在表面或缝隙中,
    136浏览量
  • 兆声波清洗对晶圆有什么潜在损伤2025-11-04 16:13

    兆声波清洗通过高频振动(通常0.8–1MHz)在清洗液中产生均匀空化效应,对晶圆表面颗粒具有高效去除能力。然而,其潜在损伤风险需结合工艺参数与材料特性综合评估:表面微结构机械损伤纳米级划痕与凹坑:兆声波产生的微射流和声流冲击力可达数百MPa,若功率密度过高或作用时间过长,可能对晶圆表面造成微观划痕或局部腐蚀。图形结构变形风险:对于高深宽比的3DNAND闪存结
    153浏览量
  • 超声清洗机30khz和40khz哪个好些2025-11-04 16:00

    在选择超声清洗机时,30kHz和40kHz的频率各有特点,需根据具体需求权衡:一、空化效应与清洗强度30kHz(低频):频率较低,产生的气泡更大,破裂时冲击力更强,适合去除顽固污垢或大型部件表面的重油污。但可能对精密零件造成损伤,且噪音较大。例如工业场景中清洗机械零件或带有结合力较强污染物的设备。40kHz(高频):气泡更小且密集,冲击力均匀温和,穿透力强,
    174浏览量
  • 破局晶圆污染难题:硅片清洗对良率提升的关键作用2025-10-30 10:47

    去除表面污染物,保障工艺精度颗粒物清除:在半导体制造过程中,晶圆表面极易附着微小的颗粒杂质。这些颗粒若未被及时清除,可能会在后续的光刻、刻蚀等工序中引发问题。例如,它们可能导致光刻胶涂层不均匀,影响图案转移的准确性;或者在刻蚀时造成局部过刻或欠刻,从而改变电路的设计尺寸和性能。通过有效的清洗,可以确保晶圆表面的平整度和洁净度,为高精度的加工工艺提供基础保障。
  • 从晶圆到芯片:全自动腐蚀清洗机的精密制造赋能2025-10-30 10:45

    全自动硅片腐蚀清洗机的核心功能与工艺特点围绕高效、精准和稳定的半导体制造需求展开,具体如下:核心功能均匀可控的化学腐蚀动态浸泡与旋转同步机制:通过晶圆槽式浸泡结合特制转笼自动旋转设计,使硅片在蚀刻液中保持匀速运动,确保各区域受蚀刻作用一致,实现极高的表面平整度(如增量δTTV≤1.5μm)。这种动态处理方式有效避免局部过蚀或欠蚀问题,尤其适用于复杂图形化的晶
    248浏览量
  • 清洗晶圆去除金属薄膜用什么2025-10-28 11:52

    清洗晶圆以去除金属薄膜需要根据金属类型、薄膜厚度和工艺要求选择合适的方法与化学品组合。以下是详细的技术方案及实施要点:一、化学湿法蚀刻(主流方案)酸性溶液体系稀盐酸(HCl)或硫酸(H₂SO₄)基配方:适用于大多数金属(如铝、铜、镍)。例如,用浓度5%~10%的HCl溶液可有效溶解铝层,反应生成可溶性氯化铝络合物。若添加双氧水(H₂O₂)作为氧化剂,能加速金
    274浏览量
  • 半导体六大制程工艺2025-10-28 11:47

    1.晶圆制备(WaferPreparation)核心目标:从高纯度多晶硅出发,通过提纯、单晶生长和精密加工获得高度平整的圆形硅片(晶圆)。具体包括直拉法或区熔法拉制单晶锭,切片后进行研磨、抛光处理,最终形成纳米级表面粗糙度的衬底材料。例如,现代先进制程普遍采用300mm直径的大尺寸晶圆以提高生产效率。该过程为后续所有微纳加工奠定物理基础,其质量直接影响器件性
  • 晶圆清洗后如何判断是否完全干燥2025-10-27 11:27

    判断晶圆清洗后是否完全干燥需要综合运用多种物理检测方法和工艺监控手段,以下是具体的实施策略与技术要点:1.目视检查与光学显微分析表面反光特性观察:在高强度冷光源斜射条件下,完全干燥的晶圆呈现均匀镜面反射效果,无任何水膜干涉条纹或晕染现象。若存在局部湿润区域,光线散射会产生模糊的暗斑或彩色光晕。显微镜下微观验证:使用金相显微镜放大观察晶圆边缘及图案结构凹槽处,
    132浏览量
  • 晶圆湿法刻蚀技术有哪些优点2025-10-27 11:20

    晶圆湿法刻蚀技术作为半导体制造中的重要工艺手段,具有以下显著优点:高选择性与精准保护通过选用特定的化学试剂和控制反应条件,湿法刻蚀能够实现对目标材料的高效去除,同时极大限度地减少对非目标区域(如掩膜覆盖部分)的影响。这种高选择性源于不同材料在腐蚀液中的溶解速率差异,例如使用缓冲氧化物刻蚀液(BOE)时,二氧化硅的刻蚀速度远高于硅基底,从而确保精确的图案转移。
    181浏览量