产品
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半导体分立器件测试设备2026-03-16 11:30
产品型号:HUSTEC-DC-2010 设备尺寸:500(宽)x 450(深)x 250(高)mm 质量:30kg 海拔高度:海拔不超过 1000m 储存环境:-20℃~50℃ 工作环境:15℃~40℃ -
半导体分立器件静态测试系统2026-03-16 10:18
产品型号:HUSTEC-DC-2010 设备尺寸:500(宽)x 450(深)x 250(高)mm 质量:30kg 海拔高度:海拔不超过 1000m 储存环境:-20℃~50℃ 工作环境:15℃~40℃ -
半导体分立器件测试系统2026-03-16 10:06
产品型号:HUSTEC-DC-2010 设备尺寸:500(宽)x 450(深)x 250(高)mm 质量:30kg 海拔高度:海拔不超过 1000m 储存环境:-20℃~50℃ 工作环境:15℃~40℃ -
半导体分立器件测试分析仪2026-03-16 09:41
产品型号:HUSTEC-DC-2010 设备尺寸:500(宽)x 450(深)x 250(高)mm 质量:30kg 海拔高度:海拔不超过 1000m 储存环境:-20℃~50℃ 工作环境:15℃~40℃ -
大功率半导体器件静态参数测试系统2026-03-06 16:18
产品型号:HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸:500(宽)x 450(深)x 250(高)mm 质量:30kg 海拔高度:海拔不超过 1000m 储存环境:-20℃~50℃ 工作环境:15℃~40℃ -
半导体静态参数测试仪系统设备2026-03-06 14:58
产品型号:HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸:500(宽)x 450(深)x 250(高)mm 质量:30kg 海拔高度:海拔不超过 1000m 储存环境:-20℃~50℃ 工作环境:15℃~40℃ -
功率器件静态测试机2026-03-06 14:12
产品型号:HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸:500(宽)x 450(深)x 250(高)mm 质量:30kg 海拔高度:海拔不超过 1000m 储存环境:-20℃~50℃ 工作环境:15℃~40℃ -
MOS管功率器件静态参数测试仪2026-03-06 11:27
产品型号:HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸:500(宽)x 450(深)x 250(高)mm 质量:30kg 海拔高度:海拔不超过 1000m 储存环境:-20℃~50℃ 工作环境:15℃~40℃ -
功率器件参数分析仪2026-03-06 11:03
产品型号:HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸:500(宽)x 450(深)x 250(高)mm 质量:30kg 海拔高度:海拔不超过 1000m 储存环境:-20℃~50℃ 工作环境:15℃~40℃ -
SiC/IGBT功率半导体器件测试仪2026-03-06 10:42
产品型号:HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸:500(宽)x 450(深)x 250(高)mm 质量:30kg 海拔高度:海拔不超过 1000m 储存环境:-20℃~50℃ 工作环境:15℃~40℃