产品
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igbt特性参数测试仪2026-04-13 14:30
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
半导体电性能测试设备2026-04-13 14:25
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
半导体电性能测试设备2026-04-13 11:14
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
大功率半导体测试设备2026-04-13 11:12
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
IGBT功率半导体器件测试机2026-04-13 10:38
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
功率半导体器件静态测试系统2026-04-13 10:34
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
宽禁带半导体静态参数测试系统2026-04-13 10:32
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
半导体元器件iv曲线测试仪2026-04-13 10:23
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
高功率半导体检测设备2026-04-13 09:57
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
IGBT单管/模块测试机2026-04-13 09:49
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃