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• 发布了产品 2026-04-20 16:38

  大功率IGBT静态参数测试仪

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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• 发布了产品 2026-04-20 13:43

  SiC器件静态参数测试仪

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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• 发布了产品 2026-04-20 10:29

  大功率半导体器件静态参数测试系统

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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• 发布了产品 2026-04-20 10:23

  SiC器件静态参数测试设备

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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• 发布了产品 2026-04-16 17:12

  GaN器件静态参数测试仪

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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• 发布了产品 2026-04-16 16:49

  功率器件测试仪系统

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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• 发布了产品 2026-04-16 16:04

  元器件静态参数测试仪

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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• 发布了产品 2026-04-16 14:45

  功率半导体测试仪

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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• 发布了产品 2026-04-16 14:33

  IGBT测试仪

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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• 发布了产品 2026-04-16 14:25

  半导体分立器件静态参数测试系统

  

  产品型号：HUSTEC-DC-2010 主机尺寸：深 660*宽 430*高 210(mm) 主机重量：＜35kg 主机颜色：银色系

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