产品
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大功率IGBT静态参数测试仪2026-04-20 16:38
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
SiC器件静态参数测试仪2026-04-20 13:43
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
大功率半导体器件静态参数测试系统2026-04-20 10:29
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
SiC器件静态参数测试设备2026-04-20 10:23
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
GaN器件静态参数测试仪2026-04-16 17:12
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
功率器件测试仪系统2026-04-16 16:49
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
元器件静态参数测试仪2026-04-16 16:04
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
功率半导体测试仪2026-04-16 14:45
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
IGBT测试仪2026-04-16 14:33
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
半导体分立器件静态参数测试系统2026-04-16 14:25
产品型号：HUSTEC-DC-2010 主机尺寸：深 660*宽 430*高 210(mm) 主机重量：＜35kg 主机颜色：银色系 主机功耗：＜300W 海拔高度：海拔不超过 4000m