产品
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SiC MOS功率器件测试设备2026-04-09 10:56
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
半导体功率测试设备2026-04-09 10:50
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
SiC功率器件测试机2026-04-09 10:39
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
功率器件测试设备2026-04-09 10:19
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
高电压/大电流IGBT静态参数测试设备2026-04-09 10:09
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
光耦特性曲线测试设备2026-04-09 10:04
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
二极管反向漏电流测试设备2026-04-08 16:53
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
硅基/SiC特性曲线测试设备2026-04-08 16:23
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
功率半导体行业测试设备2026-04-08 14:16
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
第三代半导体功率器件测试系统2026-04-03 14:32
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃