产品
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半导体IV曲线图示仪2026-03-30 09:52
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
半导体分立器件测试设备2026-03-27 16:58
产品型号：HUSTEC-DC-2010 主机尺寸：深 660*宽 430*高 210(mm) 主机重量：＜35kg 主机颜色：银色系 主机功耗：＜300W 海拔高度：海拔不超过 4000m -
半导体分立器件测试分析仪2026-03-27 16:05
产品型号：HUSTEC-DC-2010 主机尺寸：深 660*宽 430*高 210(mm) 主机重量：＜35kg 主机颜色：银色系 主机功耗：＜300W 海拔高度：海拔不超过 4000m -
半导体分立器件来料检测仪器2026-03-27 10:46
产品型号：HUSTEC-DC-2010 主机尺寸：深 660*宽 430*高 210(mm) 主机重量：＜35kg 主机颜色：银色系 主机功耗：＜300W 海拔高度：海拔不超过 4000m -
大功率分立器件测试设备2026-03-27 10:34
产品型号：HUSTEC-DC-2010 主机尺寸：深 660*宽 430*高 210(mm) 主机重量：＜35kg 主机颜色：银色系 主机功耗：＜300W 海拔高度：海拔不超过 4000m -
半导体分立器件测试系统2026-03-27 09:48
产品型号：HUSTEC-DC-2010 主机尺寸：深 660*宽 430*高 210(mm) 主机重量：＜35kg 主机颜色：银色系 主机功耗：＜300W 海拔高度：海拔不超过 4000m -
功率半导体器件静态测试系统2026-03-19 17:22
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
半导体IV曲线图示仪2026-03-19 15:02
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
大功率IGBT静态参数测试仪2026-03-19 10:40
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
元器件静态参数测试仪2026-03-19 10:01
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃