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第三代半导体SiC测试仪功率器件测试设备2026-04-03 10:37
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
GaN静态参数测试设备2026-04-03 10:31
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
SiC静态参数测试设备高压大电流2026-04-01 16:52
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
第三代功率半导体器件静态测试系统2026-04-01 11:24
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
功率半导体器件静态测试系统2026-04-01 09:45
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
SiC静态参数测试设备高压大电流2026-03-31 10:25
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
第三代功率半导体器件静态测试系统2026-03-30 11:27
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
功率半导体器件静态测试系统2026-03-30 11:09
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
大功率IGBT静态参数测试平台2026-03-30 10:58
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃ -
车规IGBT静态测试系统2026-03-30 10:38
产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m 储存环境：-20℃～50℃ 工作环境：15℃～40℃