金鉴实验室文章

• LED灯珠变色发黑与失效原因分析2025-04-27 15:47

  

  LED光源发黑现象LED光源以其高效、节能、环保的特性，在照明领域得到了广泛应用。然而，LED光源在使用过程中出现的发黑现象，却成为了影响其性能和寿命的重要因素。LED光源黑化的多重原因分析LED光源黑化是各大LED公司经常碰到的问题。然而光源黑化只是表象，硫化、氯化、溴化、氧化、碳化和化学不兼容化等原因均会导致LED光源发黑的现象。由于缺乏专业的检测设备和

  led LED光源 LED灯珠 3117浏览量

• IGBT 栅极驱动器：电力电子系统的核心组件2025-04-27 15:45

  

  在电力电子行业，随着对功率电平和开关频率要求的不断提升，半导体器件的性能面临更高的挑战。金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFET）和绝缘栅双极晶体管（IGBT）凭借其高效性和可靠性，成为中高功率开关电源应用中的首选。而IGBT栅极驱动器作为控制和驱动IGBT的核心器件，其重要性愈发显著。IGBT栅极驱动器的结构剖析1.输入端：信号接收的关键IGBT栅极驱动

  IGBT 栅极驱动器 电力电子 1026浏览量

• 什么是氩离子抛光？2025-04-27 15:43

  

  氩离子抛光技术氩离子抛光技术（ArgonIonPolishing,AIP）作为一种先进的样品制备方法，为电子显微镜（SEM）和电子背散射衍射（EBSD）分析提供了高质量的样品表面。下面将介绍氩离子抛光的原理、特点、技术优势、限制以及应用实例，以展现其在材料科学中的重要性。氩离子抛光的原理氩离子抛光技术的核心在于利用氩离子束对样品表面进行精确的物理蚀刻。在这个

  抛光 电子显微镜 982浏览量

• 最新！中国RoHS管控体系升级要点解读2025-04-27 15:42

  

  2025年4月14日，工业和信息化部科技司发布公告，《电器电子产品有害物质限制使用要求》等3项强制性国家标准（报批稿）的编制工作。中国RoHS管控体系在几大方面进行了全面升级，此次升级的核心内容之一是将有害物质的管控种类从原来的6类扩充至10类，新增的四类物质均为邻苯类物质使用要求的此次升级还对电器电子产品有害物质的限制使用要求进行了全面规范。根据最新规定，

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• AEC-Q102中的破坏性物理分析（DPA）2025-04-25 17:44

  

  AEC-Q102与DPA概述在汽车电子系统中，光电半导体器件的可靠性至关重要。AEC-Q102标准应运而生，它为汽车电子中的光电半导体器件提供了一套全面的测试规范，确保这些器件能够在极端温度波动和恶劣环境下保持稳定运行。而破坏性物理分析（DPA）作为AEC-Q102标准的核心组成部分，通过一系列物理和化学手段对器件进行深入剖析，旨在发现潜在的制造缺陷和材料问

  DPA 半导体器件 汽车电子 1089浏览量

• 安规测试常见项目2025-04-25 17:42

  

  产品安全合规性，简称“安规”，是指确保产品在使用过程中不会对消费者造成伤害的一系列标准和测试流程。安规的重要性安规测试是评估电子产品安全性的重要手段，它包括对产品可能带来的电击、火灾、机械伤害和化学伤害等风险的评估。这些测试流程不仅确保了产品的安全性，也提高了消费者对产品的信任度。安规测试的流程通常包括以下几个步骤：1.了解标准和要求：制造商需要了解目标市场

  安规测试 电子产品 1594浏览量

• 什么是透射电子显微镜（TEM）？2025-04-25 17:39

  

  透射电子显微镜透射电子显微镜简称TEM，是一种高分辨率的微观分析仪器，自1933年发明以来，已成为探索微观世界的强大工具。其工作原理是在高真空环境下，电子枪发射电子束，经过聚焦后形成细小的电子束，穿过极薄的样品。当电子束与样品中的原子相互作用时，会发生散射、衍射等现象，透射束的强度也会随之改变。通过收集这些信号，TEM能够生成高分辨率的图像，揭示样品的形貌、

  TEM 透射电子显微镜 5239浏览量

• 聚焦离子束（FIB）技术的应用原理2025-04-23 14:31

  

  聚焦离子束（FIB）技术是一种极为精细的样品制备与加工手段，它能够对金属、合金、陶瓷等多种材料进行加工，制备出尺寸极小的薄片。这些薄片的宽度通常在10~20微米，高度在10~15微米，厚度仅为100~150纳米。它不仅可以对纳米材料的指定位置进行截面处理，以供扫描电子显微镜（SEM）进行形貌分析，还能高效制备透射电子显微镜（TEM）所需的指定位置样品，从而成

  fib TEM 离子束 1470浏览量

• 透射电子显微镜：微观世界的高分辨率探针2025-04-22 15:47

  

  透射电镜的成像原理透射电子显微镜（TEM）是一种利用波长极短的电子束作为照明源的高分辨率电子光学仪器。其成像原理基于电子束与样品的相互作用。电子枪发射出的电子束经过加速和聚焦后照射到样品上，电子束的强度和方向会因样品内部的材料结构差异而发生改变。由于样品各部位的材料结构不同，经过相互作用后的电子束在荧光屏上形成的影像各点强度也不一样，从而呈现出明暗不同的图像

  TEM 显微镜 透射 透射电子显微镜 1475浏览量

• 快速温变试验：环境适应性检测的关键手段2025-04-22 15:46

  

  快速温变试验概述快速温变试验是环境应力筛选试验中的重要组成部分，也被称作温度循环试验。它是一种模拟产品在实际使用过程中可能遇到的快速温度变化环境的试验方法。该试验要求温度变化率不低于3℃/min，在特定的高温和低温之间进行快速转换。温度变化速率越快、高低温范围越大、试验持续时间越长，试验的严格程度就越高。这种试验主要用于评估产品在高温和低温快速交替变化的气候

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