金鉴实验室文章

• AEC-Q102之高加速寿命试验2025-05-14 14:40

  

  在当今快速发展的电子行业，产品的可靠性和稳定性是决定其市场竞争力的关键因素之一。为了确保电子产品能够在各种复杂环境条件下长期稳定运行，可靠性测试成为了研发和生产过程中不可或缺的重要环节。其中，高加速寿命试验（HALT）作为一种高效的测试手段，凭借其能够在短时间内模拟极端环境条件并加速产品老化过程的优势，受到了广泛关注。高加速寿命试验机的设备功能高加速寿命试验

  可靠性测试 试验 试验机 1001浏览量

• 深入剖析典型潮敏元器件分层问题2025-05-14 14:37

  

  潮敏物料主要是指非密封封装的IC，受潮后主要失效模式为内部分层。在电子组装领域，潮敏元器件一直是影响产品质量和可靠性的关键因素之一。这些元器件受潮后容易出现各种失效问题，给生产过程带来了诸多挑战。潮敏元器件失效现象描述1.QFN元器件内部分层QFN（无引脚四方扁平封装）元器件是一种常见的潮敏元器件。在某次生产中，发现某单板上的QFN元器件出现内部分层现象。该

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• 电子元器件的定义、选用与控制要点解析2025-05-13 17:55

  

  电子元器件的定义在信息技术飞速发展的当下，电子元器件的定义和内涵也在持续拓展与深化。电子元器件在电子设备中扮演着至关重要的角色，其选用与控制的合理性直接关系到产品的性能、可靠性和使用寿命。美国军标MIL-STD-1547A《航天器与运载器用电子元器件、材料和工艺》将电子元器件广义地定义为包含电气、电磁、机电和光电元器件的范畴。这些元器件与计算机、电源、导航仪

  电子元器件 航天器 1889浏览量

• 详细解析AEC-Q102认证2025-05-13 17:54

  

  AEC-Q102是由汽车电子委员会（AEC）制定的车用光电器件可靠性标准，于2017年首次发布，并在2020年更新至RevA版本。该标准的核心目标是验证LED、激光二极管、光耦等光电器件在极端汽车环境（如温度、湿度、振动）下的长期稳定性和安全性，确保这些器件能够满足车载环境15年的使用寿命要求。AEC-Q102认证已成为汽车供应链的准入门槛，通过该认证的产品

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• RoHS与ELV有什么差异？2025-05-12 15:44

  

  RoHS的标准RoHS（RestrictionofHazardousSubstances）是一项由欧盟立法制定的强制性标准，全称为《关于限制在电子电气设备中使用某些有害成分的指令》。该标准的核心目标是限制在电子电气产品制造过程中使用特定的有害物质，以减少对环境和人类健康的潜在危害。RoHS标准的应用范围RoHS指令涵盖了广泛的产品类别，包括但不限于大型家用电

  RoHS 电子电子 1724浏览量

• 案例解析||照明LED的失效模式问题及改善措施2025-05-09 16:51

  

  LED是一种直接将电能转换为可见光和辐射能的发光器件，具有耗电量小、发光效率高、体积小等优点，目前已经逐渐成为了一种新型高效节能产品，并且被广泛应用于显示、照明、背光等诸多领域。近年来，随着LED技术的不断进步，其发光效率也有了显著的提升，现有的蓝光LED系统效率可以达到60%，而白光LED的光效已经超过150lm/W，这些特点都使得LED受到越来越多的关注

  led 发光器件 失效模式 1315浏览量

• AEC-Q102之推拉力测试2025-05-09 16:49

  

  在汽车智能化与电动化的浪潮中，光电半导体器件（如LED、激光雷达、光传感器等）的可靠性直接决定了车辆的安全性与性能。AEC-Q102作为汽车电子领域针对分立光电半导体的核心测试标准，其推拉力测试是评估器件机械强度的关键环节。推拉力测试的技术原理与标准要求推拉力测试旨在评估半导体器件内部连接结构（如键合线、焊点、端子）的机械强度，防止因振动、冲击或组装应力导致

  AEC 推拉力测试机 汽车电子 976浏览量

• 透射电子显微镜（TEM）与聚焦离子束技术（FIB）在材料分析中的应用2025-05-09 16:47

  

  什么是透射电子显微镜（TEM）透射电子显微镜（TEM）是一种功能强大的分析工具，可分析各种合成材料和天然材料。它能够通过三种不同的分析技术获得固态样品的化学信息：能量色散X射线分析（EDX）、电子能量损失光谱（EELS）和高角度环形暗场成像（HAADF）。金鉴实验室配备先进的TEM设备，拥有经验丰富的操作团队，可为客户提供专业的材料分析服务。1.能量色散X射

  TEM 材料 离子束 1288浏览量

• 元器件失效分析有哪些方法？2025-05-08 14:30

  

  失效分析的定义与目标失效分析是对失效电子元器件进行诊断的过程。其核心目标是确定失效模式和失效机理。失效模式指的是我们观察到的失效现象和形式，例如开路、短路、参数漂移、功能失效等；而失效机理则是指导致失效的物理或化学过程，如疲劳、腐蚀、过应力等。通过失效分析，我们能够提出有效的纠正措施，防止同类问题再次出现，从而提高产品的可靠性和稳定性。失效分析的程序1.收集

  元器件 失效分析 1391浏览量

• 聚焦离子束技术：原理、应用与展望2025-05-08 14:26

  

  聚焦离子束技术（FocusedIonBeam，简称FIB）作为一种前沿的微观加工与分析技术，近年来在众多领域得到了广泛应用。金鉴实验室凭借其专业的检测技术和服务，成为了众多企业在半导体检测领域的首选合作伙伴。FIB技术的基本原理聚焦离子束技术的核心在于将特定元素（如镓元素）的离子化为带正电的离子（Ga+），并通过电场加速使其获得高能量。随后，借助静电透镜系统

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