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金鉴实验室

金鉴实验室是光电半导体行业最知名的第三方检测机构之一

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金鉴实验室文章

  • 聚焦离子束双束系统 FIB - SEM 的技术剖析与应用拓展2025-04-10 11:53

    技术原理与核心优势聚焦离子束双束系统(FIB-SEM)是一种集成多种先进技术的高端设备,其核心构成包括聚焦离子束(FIB)模块、扫描电子显微镜(SEM)模块以及多轴样品台,这种独特的结构设计使得它能够实现加工与观测的一体化操作,极大地提高了工作效率和分析精度。1.FIB模块的关键作用FIB模块采用液态金属离子源(LMIS)产生镓离子束(Ga⁺),这种镓离子束
    fib SEM 离子束 1468浏览量
  • RoHS、REACH 、无卤的区别2025-04-08 17:58

    RoHS指令详解RoHS(限制特定有害物质)是欧盟为降低电子和电气设备中有害物质含量而实施的一项法规。该指令的主要目的是限制六种有害物质的使用,以减少对环境和人类健康的影响。铅(Pb):不得超过0.1%(1000ppm),常见用途包括焊料、玻璃和PVC稳定剂。汞(Hg):不得超过0.1%(1000ppm),用于温控器、传感器等。镉(Cd):不得超过0.01%
    REACH RoHS 电气设备 2198浏览量
  • 热膨胀系数测试2025-04-08 17:57

    热膨胀系数测试是材料科学领域内一项至关重要的实验技术。热膨胀系数测试的原理热膨胀系数是衡量材料在温度变化时尺寸(长度或体积)相对变化量的物理指标,具体定义为:当温度升高1K时,材料尺寸相对于其原始尺寸的增量比例。热膨胀系数的大小受多种因素影响,包括材料的化学构成、键的牢固程度、结晶状态、晶体取向、相转变过程、内部裂纹及缺陷等对于同一材料而言,热膨胀系数并非恒
    测试 热膨胀 2959浏览量
  • 聚焦离子束技术之纳米尺度2025-04-08 17:56

    聚焦离子束(FocusedIonBeam,简称FIB)技术,宛如一把纳米尺度的“万能钥匙”,在材料加工、分析及成像领域大放异彩。它凭借高度集中的离子束,精准操控离子束与样品表面的相互作用,实现纳米级别的精细操作,为众多学科和工业领域带来了前所未有的机遇。核心构成FIB系统的核心在于离子束的生成与调控。生成用于撞击样品的离子束,其中最为普遍的离子源类型为液态金
    fib 离子束 纳米 899浏览量
  • 带你一文了解芯片开封技术2025-04-07 16:01

    芯片开封的定义芯片开封,即Decap,是一种对完整封装的集成电路(IC)芯片进行局部处理的工艺。其目的是去除芯片的封装外壳,暴露出芯片内部结构,同时确保芯片功能不受损。芯片开封是芯片故障分析实验的重要准备环节,能够保护芯片的Die、bondpads、bondwires及lead等关键部分,为后续的失效分析测试提供便利,便于进行热点定位、聚焦离子束(FIB)等
    激光 芯片 集成电路 1610浏览量
  • 什么是雷击浪涌测试?2025-04-07 15:57

    浪涌电流的定义浪涌电流是指电路在开启瞬间吸收的最大电流,通常出现在输入波形的几个周期内。其值远高于电路的稳态电流,这种高电流可能会对设备造成损坏,甚至触发断路器。浪涌电流常见于所有包含磁芯的设备中,例如变压器、工业电压设备等。浪涌的产生原因1.电力系统开关瞬态1)主要的电力系统切换骚扰,例如电容器组的切换,电容瞬间放电或者充电;2)配电系统中较小的局部开关动
    测试 浪涌 雷击浪涌 1386浏览量
  • 带你一文了解扫描透射电子显微镜2025-04-07 15:55

    扫描透射电子显微镜(STEM)扫描透射电子显微镜(STEM)是一种融合了透射电子显微镜(TEM)和扫描电子显微镜(SEM)部分特点的先进显微技术。该技术对操作环境和设备要求较高,需要维持极高真空度,其电子学系统也比TEM和SEM更为复杂,这使得STEM在硬件配置和操作维护方面都面临一定挑战,但同时也为其提供了独特的性能优势。扫描透射电镜的原理扫描透射电子显微
  • 灯具防尘试验:保障灯具性能与安全的关键2025-04-01 18:01

    在灯具的使用过程中,灰尘接触是不可避免的现象。灰尘不仅会附着在灯具表面,还可能进入灯具内部,对其正常运行造成潜在威胁。因此,对灯具进行防尘试验至关重要。防尘试验能够有效评估灯具在灰尘环境中的防护能力,从而确保其在实际使用中的安全性和可靠性。灯具防尘试验的目的灯具防尘试验的主要目的是确定照明和光信号装置(封闭式灯除外)的防尘性能。通过模拟实际使用中可能遇到的灰
    灯具 试验 981浏览量
  • 聚焦离子束显微镜(FIB-SEM)的应用领域2025-04-01 18:00

    聚焦离子束显微镜(FIB-SEM)作为一种前沿的微观分析与加工工具,将聚焦离子束(FIB)和扫描电子显微镜(SEM)技术深度融合,兼具高分辨率成像和精密微加工能力,广泛应用于材料科学、电子工业、生命科学及纳米技术等领域,成为现代科研与工业不可或缺的重要设备。FIB-SEM其独特的双束系统设计,使SEM能够实时监控FIB操作,实现了高分辨率电子束成像与精细离子
    fib SEM 显微镜 1117浏览量
  • 最新!欧盟 RoHS 与 REACH 法规解读2025-03-31 13:56

    RoHS指令:电子电气产品的绿色标尺RoHS指令,全称为《关于限制在电子电器设备中使用某些有害成分的指令》,是欧盟为规范电子电气产品而设立的重要环保法规。自2006年7月1日起,欧盟市场上的新电子电气设备被明确禁止使用铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯(PBB)和多溴二苯醚(PBDE)等六种有害物质。这些物质在电子设备的生产过程中曾被广泛使用,例如铅用于镀铬、铬酸
    REACH RoHS 电气设备 2615浏览量