金鉴实验室

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• 发布了文章 2025-04-07 15:55

  带你一文了解扫描透射电子显微镜

  

  扫描透射电子显微镜（STEM）扫描透射电子显微镜（STEM）是一种融合了透射电子显微镜（TEM）和扫描电子显微镜（SEM）部分特点的先进显微技术。该技术对操作环境和设备要求较高，需要维持极高真空度，其电子学系统也比TEM和SEM更为复杂，这使得STEM在硬件配置和操作维护方面都面临一定挑战，但同时也为其提供了独特的性能优势。扫描透射电镜的原理扫描透射电子显微

  stem 显微镜 电子显微镜

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• 发布了文章 2025-04-01 18:01

  灯具防尘试验：保障灯具性能与安全的关键

  

  在灯具的使用过程中，灰尘接触是不可避免的现象。灰尘不仅会附着在灯具表面，还可能进入灯具内部，对其正常运行造成潜在威胁。因此，对灯具进行防尘试验至关重要。防尘试验能够有效评估灯具在灰尘环境中的防护能力，从而确保其在实际使用中的安全性和可靠性。灯具防尘试验的目的灯具防尘试验的主要目的是确定照明和光信号装置（封闭式灯除外）的防尘性能。通过模拟实际使用中可能遇到的灰

  灯具 试验

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• 发布了文章 2025-04-01 18:00

  聚焦离子束显微镜（FIB-SEM）的应用领域

  

  聚焦离子束显微镜（FIB-SEM）作为一种前沿的微观分析与加工工具，将聚焦离子束（FIB）和扫描电子显微镜（SEM）技术深度融合，兼具高分辨率成像和精密微加工能力，广泛应用于材料科学、电子工业、生命科学及纳米技术等领域，成为现代科研与工业不可或缺的重要设备。FIB-SEM其独特的双束系统设计，使SEM能够实时监控FIB操作，实现了高分辨率电子束成像与精细离子

  fib SEM 显微镜

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• 发布了文章 2025-03-31 13:56

  最新！欧盟 RoHS 与 REACH 法规解读

  

  RoHS指令：电子电气产品的绿色标尺RoHS指令，全称为《关于限制在电子电器设备中使用某些有害成分的指令》，是欧盟为规范电子电气产品而设立的重要环保法规。自2006年7月1日起，欧盟市场上的新电子电气设备被明确禁止使用铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯（PBB）和多溴二苯醚（PBDE）等六种有害物质。这些物质在电子设备的生产过程中曾被广泛使用，例如铅用于镀铬、铬酸

  REACH RoHS 电气设备

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• 发布了文章 2025-03-31 13:53

  UL阻燃标准常见误区

  

  UL阻燃标准的复杂性与误解根源UL阻燃标准作为国际上广泛使用的材料阻燃性能评估体系，其重要性不言而喻。然而，由于该标准源自美国，其专业术语和复杂的技术细节在翻译和传播过程中，容易引发理解上的偏差，每个厂家对“V0”级等关键指标有着不同的定义和判定标准。这种混乱的局面，不仅给上游原材料供应商和下游产品制造商带来了极大的沟通成本和质量把控难题，也使得整个产业链在

  UL 阻燃

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• 发布了文章 2025-03-28 12:19

  焊接质量检测方法

  

  焊接作为一种关键的金属连接工艺，其质量直接决定了产品的整体性能和使用寿命。因此，准确检测焊接质量对于保障产品安全性和可靠性至关重要。目视检查目视检查是焊接质量检测的第一步，也是最为直观和简便的方法。通过肉眼观察焊缝的外观特征，可以初步判断焊接工艺是否符合要求。拉伸试验拉伸试验是检测焊接接头力学性能的重要方法之一。通过将焊接试样置于拉伸试验机中，对其施加拉力，

  焊接 质量检测

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• 发布了文章 2025-03-28 12:14

  FIB-SEM双束系统：多领域应用的前沿技术

  

  系统构成与工作原理FIB-SEM双束系统是一种集微区成像、加工、分析、操纵于一体的综合型分析与表征设备。其基本构成是将单束聚焦离子束系统与扫描电子显微镜（SEM）耦合而成。在常见的双束设备中，电子束垂直安装，离子束与电子束成一定夹角安装，两者的焦平面交点被称为共心高度位置。当样品处于共心高度时，可同时实现电子束成像和离子束加工，并可通过样品台的倾转使样品表面

  fib SEM 电子束

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• 发布了文章 2025-03-27 10:29

  一文了解材料耐候老化测试

  

  高分子材料老化现象高分子材料在其整个生命周期，包括合成、贮存、加工以及最终应用阶段，都面临着变质的风险，这种变质表现为材料性能的恶化。具体而言，可能出现泛黄、相对分子质量降低、制品表面龟裂、光泽丧失等问题，更为严重的是力学性能的大幅下降，如冲击强度、挠曲强度、拉伸强度和伸长率等，从而影响制品的正常使用，这种现象被称为塑料的化学老化，简称老化。从化学角度来看，

  材料 老化测试

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• 发布了文章 2025-03-27 10:26

  LM-80测试：评估LED灯具的寿命与性能

  

  LM80测试简介LM80测试是由北美照明工程协会（IESNA）与美国国家标准学会（ANSI）联合发布的权威标准，主要用于评估LED器件的流明维持率和颜色维持性能。这一标准为LED产品的寿命和性能评估提供了科学且统一的方法，被行业内公认为“黄金标准”。对于LED制造商而言，LM80测试是产品性能的重要证明，也是申请能效认证（如能源之星、中国能效标识）的关键环节

  LED灯具 LM80 测试

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• 发布了文章 2025-03-27 10:24

  聚焦离子束技术：原理、特性与应用

  

  聚焦离子束（Focused-Ion-Beam,FIB）技术是一种先进的微纳加工与分析手段。其基本原理是通过电场和磁场的作用，将离子束聚焦到亚微米甚至纳米级别，并利用偏转和加速系统控制离子束的扫描运动，实现微纳图形的监测分析以及微纳结构的无掩模加工。FIB系统基本组成FIB系统由多个关键部分组成，如图1所示。离子源是系统的核心，通常采用液态金属离子源，如镓离子

  fib 离子束

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