汉通达

动态

• 发布了文章 2026-07-17 10:03

  一文了解芯片测试

  

  今天我们聊聊芯片测试，相信同行的大神们已经都很熟悉了，本篇主要给刚入行的兄弟以及行外人简单介绍一下我们这群牛马整天都在折腾些啥。芯片测试是通过给定器件输入，测量输出响应，将其与预期的输出相比较，以评估IC器件电学特性及逻辑功能的过程。是验证产品设计、监控生产状况、保证产品质量、分析产品实效以及指导应用的重要手段。大白话就是：通过一些手段把坏的芯片挑出来，好的

  汉通达 IC 器件 芯片测试

  2.6k浏览量

• 发布了文章 2026-07-10 10:02

  写测试程序前，先看懂一颗芯片怎样被 ATE 测试

  

  ATE测试程序入门（1）：以MagnumEPIC为例ATE测试程序不是普通软件。它控制的是DUT接入、pin映射、供电、电平、时序、pattern、测量、判定、分BIN和debug。1.测试程序控制的是tester怎样测试DUT1.1ATE程序不是写给DUT跑的应用很多初学者会把ATE测试程序想成“让芯片运行一段程序”。这在一些带CPU、BIST或firmw

  汉通达 ATE 测试 芯片

  6.8k浏览量

• 发布了文章 2026-07-03 10:01

  AI越强，测试越重要

  

  听到这句话，很多人会觉得有点奇怪。AI越来越强，能写代码、能调试、能看报错然后修复，甚至能自己写测试、自己跑测试。照这个趋势，测试这件事早晚会被AI全部接管，人类工程师只需要告诉AI"你去测一下"就好了。为什么说AI越强，测试反而越重要？如果你真的在用AI写代码，你可能已经隐约感觉到了：AI交给你的东西，看起来是对的，但它到底对不对，你心里其实是没底。一、A

  汉通达 AI 人工智能 测试

  715浏览量

• 发布了文章 2026-06-26 10:02

  探针卡：芯片测试的第一道门槛

  

  一颗芯片在Fab下线后、封装之前，第一件事就是被探针卡扎一下。这篇文章不讲学院派理论，从ATE测试产线视角讲清楚：探针卡到底长什么样？三种类型该怎么选？为什么接触电阻能让你半夜被良率报警电话吵醒？以及Tester-on-Probe-Card这个趋势意味着什么。凌晨两点，我的手机响了。产线值班工程师的声音带着困意和紧张："狗蛋，CP良率掉了3个点，12寸批，同

  汉通达 探针卡 测试机 芯片测试

  7.6k浏览量

• 发布了文章 2026-06-18 10:02

  芯片良率为什么跟die size有关系

  

  今天聊一下为啥diesize越大，良率相对就容易较低，以前只是感觉是这么回事，但好像没怎么深入探究一下，今天就来聊一下这个话题。一、良率是什么？最直白的定义：但"良率"这个词在不同阶段含义略有不同我们通常说的"良率"，主要指的是Die良率——一张晶圆上，有多少比例的Die是好的。二、为什么晶圆上有坏的Die？一张300mm晶圆，面积约706cm²，上面可能有

  汉通达 晶圆 芯片

  1.4k浏览量

• 发布了文章 2026-06-12 10:04

  AI 审核芯片测试板，能找出真问题吗？

  

  最近，我委托合作方设计了一款芯片测试用的PCB电路板。合作方完成原理图后，把PDF文件交给我审查。我想测试一下AI在审查电路图方面的效果，就把PDF文件丢给Codex，它竟然精准找到了两个真问题。其中一个问题相对隐蔽，我看到的时候倒吸一口凉气。省流版本：Codex先解析PDF，判定这是Altium导出的原理图，然后对图纸分区裁剪、逐一识别电路和元件，同时联网

  汉通达 AI 测试板 芯片测试

  1.7k浏览量

• 发布了文章 2026-06-05 10:02

  AI Coding 时代，测试工程师怎么做测试？

  

  一、时代背景：AI写代码快了，测试跟得上吗？AI编程工具的普及，让开发速度发生了质变。一个功能以前可能需要三天，现在半天出来了。迭代节奏加快了，但测试的方式还停留在原地——用例还是手写，回归还是靠人跑，联调还是拉着开发一起等。结果就是：AI让开发提速，测试成了新的瓶颈。靠加人、加班追赶是追不上的。思路必须变。———二、AI能完全替代执行测试吗？先给结论：结构

  汉通达 AI 测试

  1.1k浏览量

• 发布了文章 2026-05-22 10:03

  RF 测试分析

  

  RF测试项测试原理是什么？射频（RF）是RadioFrequency的缩写，一般定义信号频率在300kHz到300GHz之间的电磁波信号，为RF信号。RF信号的常见应用场景为：无线通信和雷达等领域。我们先来简单熟悉一下RF通信的过程，RF通信在结构上分为Tx(发送端)和Rx(接收端)两大部分。对于不同的通信场景（wifi，蓝牙，蜂窝数据），调制方式会有不同,

  汉通达 RF 测试 电磁波

  2.3k浏览量

• 发布了文章 2026-05-15 10:04

  芯片测试不是跑得越慢越稳：测试时间优化的5个方法

  

  一颗芯片的测试时间，直接决定了每小时能测多少颗。测试时间越长，成本越高。到了量产阶段，每缩短1秒，乘以年产量，就是一笔可观的节省。但优化测试时间不能牺牲测试质量。今天聊聊5个既安全又有效的方法。01方法一：合并测试项很多测试程序把相关参数拆成多个测试项分开测，每次都要重新配置硬件、重新等待稳定。优化思路很简单，把能在同一个条件下测的参数合并到一起。举个例子，

  汉通达 测试时间 芯片 芯片测试

  758浏览量

• 发布了文章 2026-05-08 10:02

  用一行命令搞定半导体测试数据分析

  

  做ATE测试的同学应该都有过这样的经历，实验室机台调试时，跑完一批测试，拿到一堆STDF文件，由于是二进制文件无法直接查看。想看某个测试项的数据分布？想对比不同批次的良率？想出个报告给老板看？对不起，先找个能解析STDF的工具吧。找到的要么收费，要么功能有限，要么界面像上个世纪的产物。所以我自己写了一个stdf-reader，开源免费，一行命令安装，用起来就

  汉通达 半导体 数据分析 测试

  1.2k浏览量