金鉴实验室文章

• 什么是透射电镜？2025-03-06 17:18

  

  透射电子显微镜（TEM，TransmissionElectronMicroscope），简称透射电镜，是一种以波长极短的电子束作为照明源的高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器。透射电子显微镜的工作原理是通过电子枪发射电子束，经加速和聚焦后照射在样品上。电子束与样品相互作用后，强度和方向均发生改变，由于样品各部位材料结构不同，投放到荧光屏上的各点强度也会不同，从

  显微镜 透射 透射电镜 2046浏览量

• 一文了解AEC-Q车规认证2025-03-06 17:17

  

  AECQ认证是汽车零部件领域的一项重要车规级标准，它为汽车电子零部件的可靠性和质量提供了明确的规范和测试要求。金鉴实验室作为专业的测试机构，能够提供符合AEC-Q标准的全面测试服务，确保汽车电子组件的可靠性与质量，以满足汽车行业对于安全性、持久性和稳定性的严苛要求。AEC（AutomotiveElectronicsCouncil，汽车电子委员会）是由克莱斯勒

  AEC 汽车电子 车规芯片 2389浏览量

• 聚焦离子束（FIB）技术：微纳加工的利器2025-03-05 12:48

  

  聚焦离子束（FocusedIonBeam,FIB）技术是微纳加工领域中不可或缺的关键技术。它凭借高精度、高灵活性和多功能性，成为众多微纳加工技术中的佼佼者。通过精确控制电场和磁场，FIB技术能够将离子束聚焦到亚微米甚至纳米级别，实现对样品的直接加工和实时监测。FIB技术的核心组成1.离子源：技术的核心离子源是FIB技术的核心部件。通常采用液态金属离子源（如镓

  fib 离子束 聚焦 1216浏览量

• 氩离子截面技术与SEM在陶瓷电阻分析中的应用2025-03-05 12:44

  

  SEM技术及其在陶瓷电阻分析中的作用扫描电子显微镜（SEM）是一种强大的微观分析工具，能够提供高分辨率的表面形貌图像。通过SEM测试，可以清晰地观察到陶瓷电阻表面的微观结构和形态特征，从而评估其质量。例如，可以判断陶瓷电阻表面是否存在缺陷、裂纹或污染等问题。这些表面特征对陶瓷电阻的性能有着直接的影响，因此SEM在陶瓷电阻的质量控制和性能优化中发挥着重要作用。

  SEM 显微镜 陶瓷电阻 794浏览量

• 机械碰撞防护等级测试2025-03-05 12:43

  

  一机械碰撞防护等级（IK01~IK10）IK是指设备外壳的防冲击防护等级，IK类似于IP防护等级，对于室外电子设备，无论是架空，地埋还是普通室外放置，都需要有相应的IP、IK要求。IK等级是焦耳为单位的摆锤自由落体撞击来决定的，标识电器设备外壳对外界机械碰撞的防护等级(IK代码)。IK代码的特征数字组合为01到10，即：IK01，IK02，IK03，IK04

  机械 测试 防护等级 1741浏览量

• 芯片可靠性测试：性能的关键2025-03-04 11:50

  

  在芯片行业，可靠性测试是确保产品性能的关键环节。金鉴实验室作为专业的检测机构，提供全面的芯片可靠性测试服务，帮助企业在激烈的市场竞争中保持领先。预处理（Preconditioning，PC）预处理（PC）也称为MSL湿度敏感试验，主要针对芯片在吸收湿气后，经过表面贴装技术（SMT）回流焊接过程中可能出现的问题。在实际应用中，芯片吸收湿气后可能会在焊接过程中出

  可靠性测试 芯片 1874浏览量

• 含溴阻燃剂检测2025-03-04 11:50

  

  溴化阻燃剂简介溴系阻燃剂（BrominatedFlameRetardants，简称BFRs）是含溴有机化合物的一大类，包括多溴二苯醚（简称PBDEs）、六溴环十二烷（简称HBCDD）和多溴联苯（简称PBBs）等。这类化合物凭借其出色的阻燃效能，被广泛地应用于塑料制品、各种纺织品以及儿童相关产品中，主要目的是提升这些产品的耐火性能。应用与潜在风险溴化阻燃剂的使

  印刷电路板 检测 803浏览量

• 聚焦离子束技术在现代科技的应用2025-03-03 15:51

  

  聚焦离子束（FocusedIonBeam，简称FIB）技术是一种在微观尺度上对材料进行加工、分析和成像的先进技术。它在材料科学、半导体制造、纳米技术等领域发挥着不可或缺的作用。FIB的基本原理聚焦离子束技术的核心在于利用高能离子束对样品进行加工和分析。其基本原理是将镓（Ga）等元素在强电场的作用下加速，形成高能离子束。通过精确控制电场和磁场，离子束能够聚焦到

  fib 材料 离子束 976浏览量

• 氩离子束研磨抛光助力EBSD样品的高效制备2025-03-03 15:48

  

  EBSD样品制备EBSD样品的制备过程对实验结果的准确性和可靠性有着极为重要的影响。目前，常用的EBSD样品制备方法包括机械抛光、电解抛光和聚焦离子束（FIB）等，但这些方法各有其局限性。1.机械抛光的局限性机械抛光是一种传统的EBSD样品制备方法，虽然操作相对简单，但存在诸多问题。首先，由于其硬度较大，可能会划伤材料表面，尤其不适合硬度较低的材料。其次，机

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• 双束聚焦离子束-扫描电镜（FIB）：TEM样品制备2025-02-28 16:11

  

  双束聚焦离子束-扫描电镜（DualBeamFocusedIonBeam,FIB）作为一种先进的微观加工与分析技术，广泛应用于材料科学、纳米技术、半导体研究等领域。其不仅可以制作常见的截面透射电子显微镜（TEM）薄片样品，还能根据不同的研发表征需求，对材料样品的表面进行平面加工制样。截面与平面TEM样品的区别截面TEM样品与平面TEM样品的主要区别在于观察面的

  fib 扫描电镜 离子束 1471浏览量