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• 发布了产品 2026-03-16 11:30

  半导体分立器件测试设备

  

  产品型号：HUSTEC-DC-2010 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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• 发布了产品 2026-03-16 10:18

  半导体分立器件静态测试系统

  

  产品型号：HUSTEC-DC-2010 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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• 发布了产品 2026-03-16 10:06

  半导体分立器件测试系统

  

  产品型号：HUSTEC-DC-2010 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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• 发布了产品 2026-03-16 09:41

  半导体分立器件测试分析仪

  

  产品型号：HUSTEC-DC-2010 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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• 发布了产品 2026-03-06 16:18

  大功率半导体器件静态参数测试系统

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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• 发布了产品 2026-03-06 14:58

  半导体静态参数测试仪系统设备

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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• 发布了产品 2026-03-06 14:12

  功率器件静态测试机

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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• 发布了产品 2026-03-06 11:27

  MOS管功率器件静态参数测试仪

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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• 发布了产品 2026-03-06 11:03

  功率器件参数分析仪

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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• 发布了产品 2026-03-06 10:42

  SiC/IGBT功率半导体器件测试仪

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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