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• 发布了产品 2026-04-09 10:56

  SiC MOS功率器件测试设备

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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• 发布了产品 2026-04-09 10:50

  半导体功率测试设备

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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• 发布了产品 2026-04-09 10:39

  SiC功率器件测试机

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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• 发布了产品 2026-04-09 10:19

  功率器件测试设备

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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• 发布了产品 2026-04-09 10:09

  高电压/大电流IGBT静态参数测试设备

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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• 发布了产品 2026-04-09 10:04

  光耦特性曲线测试设备

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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• 发布了产品 2026-04-08 16:53

  二极管反向漏电流测试设备

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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• 发布了产品 2026-04-08 16:23

  硅基/SiC特性曲线测试设备

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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• 发布了产品 2026-04-08 14:16

  功率半导体行业测试设备

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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• 发布了产品 2026-04-03 14:32

  第三代半导体功率器件测试系统

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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