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动态

• 发布了产品 2026-02-27 11:35

  元器件静态参数测试仪

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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• 发布了产品 2026-02-27 09:53

  分立器件测试设备系统

  

  产品型号：HUSTEC-DC-2010 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm； 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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• 发布了产品 2026-02-26 16:08

  半导体静态参数测试系统

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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• 发布了产品 2026-02-26 15:30

  功率半导体测试仪

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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• 发布了产品 2026-02-26 15:26

  功率器件静态参数测试仪

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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• 发布了产品 2026-01-26 15:15

  半导体分立器件测试设备

  

  产品型号：HUSTEC-DC-2010 主机尺寸：深 660*宽 430*高 210(mm) 主机重量：＜35kg 主机颜色：银色系

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• 发布了产品 2026-01-26 14:52

  分立器件测试仪系统

  

  产品型号：HUSTEC-DC-2010 主机尺寸：深 660*宽 430*高 210(mm) 主机重量：＜35kg 主机颜色：银色系

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• 发布了文章 2026-01-26 10:00

  分立器件的静态参数要测试哪些？这些参数对器件有什么影响？

  

  在电子设计中，分立器件（如晶体管、二极管、集成电路等）是构成复杂电路的基础组件。为了确保其性能稳定、可靠，必须对其进行静态参数测试。

  分立器件 测试

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• 发布了文章 2026-01-23 14:37

  从实验室到产线，华科智源HUSTEC-DC-2010分立器件测试系统测试方案

  

  从实验室到产线的分立器件测试，需要一套兼具高精度、高效率、可靠性和可扩展性的解决方案。这是一个从 “研发验证” 到 “批量生产” 的跨越，对测试系统的要求有显著不同。

  分立器件 测试

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• 发布了产品 2025-11-14 16:06

  柜式动态测试系统

  

  产品型号：PSL-AC-2000PRO

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