hustec

动态

• 发布了产品 2026-03-30 09:52

  半导体IV曲线图示仪

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

  9浏览量

• 发布了产品 2026-03-27 16:58

  半导体分立器件测试设备

  

  产品型号：HUSTEC-DC-2010 主机尺寸：深 660*宽 430*高 210(mm) 主机重量：＜35kg 主机颜色：银色系

  15浏览量

• 发布了产品 2026-03-27 16:05

  半导体分立器件测试分析仪

  

  产品型号：HUSTEC-DC-2010 主机尺寸：深 660*宽 430*高 210(mm) 主机重量：＜35kg 主机颜色：银色系

  11浏览量

• 发布了产品 2026-03-27 10:46

  半导体分立器件来料检测仪器

  

  产品型号：HUSTEC-DC-2010 主机尺寸：深 660*宽 430*高 210(mm) 主机重量：＜35kg 主机颜色：银色系

  12浏览量

• 发布了产品 2026-03-27 10:34

  大功率分立器件测试设备

  

  产品型号：HUSTEC-DC-2010 主机尺寸：深 660*宽 430*高 210(mm) 主机重量：＜35kg 主机颜色：银色系

  9浏览量

• 发布了产品 2026-03-27 09:48

  半导体分立器件测试系统

  

  产品型号：HUSTEC-DC-2010 主机尺寸：深 660*宽 430*高 210(mm) 主机重量：＜35kg 主机颜色：银色系

  15浏览量

• 发布了产品 2026-03-19 17:22

  功率半导体器件静态测试系统

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

  15浏览量

• 发布了产品 2026-03-19 15:02

  半导体IV曲线图示仪

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

  11浏览量

• 发布了产品 2026-03-19 10:40

  大功率IGBT静态参数测试仪

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

  14浏览量

• 发布了产品 2026-03-19 10:01

  元器件静态参数测试仪

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

  16浏览量