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• 发布了产品 2026-03-06 10:07

  华科智源分立器件测试仪

  

  产品型号：HUSTEC-DC-2010 主机尺寸：深 660*宽 430*高 210(mm) 主机重量：＜35kg 主机颜色：银色系

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• 发布了产品 2026-03-06 09:52

  华科智源IGBT测试仪

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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• 发布了产品 2026-03-04 17:47

  半导体IV特性曲线测试仪

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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• 发布了产品 2026-03-04 17:28

  半导体器件参数分析仪

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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• 发布了产品 2026-03-04 17:10

  大功率IGBT模块测试设备

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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• 发布了产品 2026-03-04 10:06

  功率半导体测试设备

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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• 发布了产品 2026-03-03 14:31

  半导体分立器件静态参数测试系统

  

  产品型号：HUSTEC-DC-2010 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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• 发布了产品 2026-03-03 11:44

  半导体分立器件测试系统

  

  产品型号：HUSTEC-DC-2010 主机尺寸：深 660*宽 430*高 210(mm) 主机重量：＜35kg 主机颜色：银色系

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• 发布了产品 2026-02-28 14:58

  晶体管测试仪

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 主机尺寸：深 660*宽 430*高 210(mm) 主机重量：＜35kg 主机颜色：银色系

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• 发布了产品 2026-02-27 16:20

  SiC器件静态参数测试仪

  

  产品型号：HUSTEC-1600A-MT 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm 质量：30kg 海拔高度：海拔不超过 1000m

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