集成电路测试技术基础课件教程免费下载

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上传日期: 2019-01-04

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资料介绍

标签:晶体管(1041)emi(805)集成电路(2922)

本文档的主要内容详细介绍的是集成电路测试技术基础课件教程免费下载包括了:课程概述和1.测试意义,2.测试基本概念,3.测试方法,4.测试的分类,5.测试主要环节,6.测试经济学,7.测试发展趋势

集成电路测试技术基础课件教程免费下载

  VLSI技术的发展对测试的影响

  芯片时钟速度提升

  全速测试要求ATE工作频率大于等于被测电路;

  ATE成本增加,增加一个测试引脚其价格将。上升3000美元;

  EMI(电磁干扰)测试。

  2.晶体管密度增加

  增加了测试复杂性;

  2001年,晶体管数目与芯片引脚数目的比例( Nt/Np)大约是11000: 1, 2003年2006年 预计为26000: 1, 2009年2012年 则预计达到67000: 1, 这种趋势表明测试复杂度( Test Complexity) 每56年就要翻一番

  访问芯片内部晶体管的能力大大降低

  OmV特征尺寸缩小增加了功耗;

  a、必须检查由于过量电流引起电源总线超载

  b、测试矢量产生过量功耗烧毁芯片

  C、大的漏电流

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