您好,欢迎来电子发烧友网! ,新用户?[免费注册]

您的位置:电子发烧友网 > 电子资料下载 > 电子论文 > 测试测量论文 >

互连线串扰效应的分析与测试技术

大小:373 KB 人气: 2011-05-28 需要积分:0
春风里的空间

用户级别:高级会员

贡献文章:

贡献资料:

 

随着集成电路的特征尺寸进入纳米尺度,相邻连线之间的电容耦合对电路时序的影响越来越大,并可能使得电路在运行时失效。本文综述了在集成电路中串扰效应的分析和测试技术方面的研究热点和最新研究进展,主要包括:在集总式互连线模型的基础上,阐述了串扰脉冲噪声和串扰引起时延的计算方法;基于时序、逻辑和电路的电参数的耦合线对的识别技术;考虑串扰时延效应的静态时序分析方法;最后还介绍了串扰故障的模型及相应的测试技术。本文也简要介绍了中国科学院计算机系统结构重点实验室在相关研究工作上的进展。

非常好我支持^.^

(0) 0%

不好我反对

(0) 0%

      发表评论

      用户评论
      评价:好评中评差评

      发表评论,获取积分! 请遵守相关规定!