射频探针的发展历史和基本要求与工作原理

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上传日期: 2020-07-09

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资料介绍

标签:探针(37)晶片(108)射频(2100)

  射频RF)探针在射频产品生命周期中几乎每一个阶段都起着重要作用:从技术开发,模型参数提取,设计验证及调试一直到小规模生产测试和最终的生产测试。通过使用射频探针,人们便有可能在晶片层次上测量射频组件的真正特性。这可以将研究和开发时间缩短并且大大降低开发新产品的成本。

  在仅仅三十年的时间里,射频探针技术便取得了惊人的进步,从低频测量到适用多种应用场合的商用方案:如在110GHz高频和高温环境进行阻抗匹配,多端口,差分和混合信号的测量装置,连续波模式中直到60W的高功率测量,以及直到750GHz的太赫兹应用,都能见到射频探针的身影。

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