芯片层级和系统层级静电放电测试的区别差异

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资料介绍

标签:静电(149)半导体(8981)芯片(17812)

随着半导体制程技术的不断演进,以及集成电路大量的运用在电子产品中,静电放电已经成为影响电子产品良率的主要因素美国最近公布因为静电放电而造成的国家损失,一年就高达两百多亿美金,而光是电子产品部份就达到一百多亿美金之多。为了有效的防范静电放电所造成的损害,国际间众多的静电放电协会,分別针对不同的环境应用下制定了不同的静电测试规范。其中针对IC在生产、制造、测试及运输过程的静电放电规范,是以美国车方所制定的人体静电放电模型最具代表性,又称之为芯片层级静电放电测试。而针対终端消费者所使用的电子产品,则以IEC61000-4-2所制定的人体静电放电模型为测试主流,这就是一般认知的系统层级静电放电测试。

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