如何使用MCP651输入失调评估板的详细中文资料概述

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资料介绍

标签:MCP(23)VOS(3)CMRR(14)评估板(141)PSRR(57)

  本文档介绍了如何使用 MCP651 输入失调评估板。本手册的内容编排如下:

  • 第 1 章“产品概述”——有关 MCP651 输入失调评估板的重要信息。

  • 第 2 章“安装与操作”——介绍 MCP651 输入失调评估板的初始设置。其中列有所需的工具,并介绍了如何设置评估板以及如何连接实验室设备。然后,演示了该评估板的使用方法。

  • 第 3 章“可能进行的修改”——介绍如何针对 SOIC-8、PDIP-8 等封装内的其他 Microchip 单运放对评估板进行修改。

  • 附录 A“原理图与布线图”——介绍 MCP651 输入失调评估板的原理图与布线图。

  • 附录 B“物料清单(BOM)”——列有用于组装 MCP651 输入失调评估板的部件。同时还列出了ESD包装内随电路板提供的可拆部件、替换元件以及未组装元件。

  MCP651 输入失调评估板为测量各种工作条件下 MCP651 输入失调评估板运放的输入失调电压提供简易的方法。测得的输入失调电压(VOST)包括数据手册中指定的输入失调电压(VOS),以及受以下因素影响产生的变化量:电源电压(PSRR)、共模电压(CMRR)、输出电压(AOL)、随温度产生的输入失调电压漂移(ΔVOS/ΔTA)以及 1/f 噪声。

  MCP651 输入失调评估板在室温(25°C 左右)条件下的效率最高。其他温度下的测量应在烘箱中进行,其中的气流速度已降至最低。

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