SN74LVT8980A-EP 增强型产品嵌入式测试总线控制器 Ieee Std 1149.1 (Jtag) Tap 主控制器

SN74LVT8980A嵌入式测试总线控制器（eTBC）是TI广泛的可测性集成电路系列的成员。该系列器件支持IEEE Std 1149.1-1990边界扫描，便于测试复杂的电路组件。与该系列的大多数其他设备不同，eTBC不是边界可扫描设备;相反，它们的功能是在嵌入式主机微处理器/微控制器的命令下掌握IEEE Std 1149.1（JTAG）测试访问端口（TAP）。因此，eTBC可以实际有效地使用IEEE Std 1149.1测试访问基础设施，以支持板级和系统级的嵌入式/内置测试，仿真和配置/维护设施。

eTBCs掌握支持一条4线或5线IEEE Std 1149.1串行测试总线所需的所有TAP信号：测试时钟（TCK），测试模式选择（TMS），测试数据输入（TDI），测试数据输出（TDO）和测试重置（TRST）\。所有这些信号都可以直接连接到相关的目标IEEE Std 1149.1设备，而无需额外的逻辑或缓冲。然而，除了直接连接之外，TMS，TDI和TDO信号还可以通过流水线连接到远程目标IEEE Std 1149.1设备，重定时延迟最多15个TCK周期; eTBC自动处理所有相关的串行数据调整。

从概念上讲，eTBC作为简单的8位存储器或I /O映射外设运行到微处理器/微控制器（主机）。高级命令和并行数据通过其通用主机接口传递到eTBC或从eTBC传递，其中包括8位数据总线（D7-D0）和3位地址总线（A2-A0）。实现读/写选择（R /W \）和选通（STRB）\信号，以便关键主机接口时序独立于CLKIN周期。当eTBC无法立即响应请求的读/写操作时，提供异步就绪（RDY）指示器以将主机读/写周期中的等待状态延迟或插入。

高级命令由主机发出以使eTBC生成将测试总线从任何稳定的TAP控制器状态移动到任何其他此类稳定状态所需的TMS序列，通过目标设备中的测试寄存器扫描指令或数据，和/或在Run-Test /Idle TAP状态下执行指令。可对32位计数器进行编程，以允许预定数量的扫描或执行周期。

在扫描操作期间，出现在TDI输入端的串行数据将被转换为串行至4×8位 - 并行先进先出（FIFO）读缓冲器，然后主机可以读取该缓冲器，以便一次获得最多8位的返回串行数据流。从TDO输出发送的串行数据由主机写入，一次最多8位，写入4×8位并行到串行FIFO写缓冲区。

除了这种简单的状态移动，扫描和运行测试操作，eTBC支持几个附加命令，提供仅输入扫描，仅输出扫描，再循环扫描（其中TDI镜像回TDO）和扫描模式使用TI的可寻址扫描端口生成用于支持多点TAP配置的协议。还支持两种环回模式，允许微处理器/微控制器主机监控eTBC输出的TDO或TMS数据流。

eTBCs ??灵活的时钟架构允许用户在自由运行（其中TCK始终遵循CLKIN）和门控模式（其中TCK输出保持静态，除了在状态移动，运行测试或扫描周期期间）之间进行选择以及从CLKIN中分解TCK。还可以使用离散模式，其中TAP在微处理器/微控制器主机的完全控制下由读/写周期严格驱动。这些功能确保eTBC几乎可以为任何IEEE Std 1149.1目标设备或设备链提供服务，即使这些设备或设备链可能不完全符合IEEE Std 1149.1。

虽然eTBC的大多数操作与CLKIN同步，提供测试输出使能（TOE）\用于TAP输出的输出控制，并且为eTBC的硬件复位提供复位（RST）\输入。前者可用于禁用eTBC，以便外部控制器可以控制相关的IEEE Std 1149.1测试总线。