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Semi Connect

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全球封测业发展现状与趋势

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动态随机存储器集成工艺(DRAM)详解

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详解三维NAND集成工艺(3D-NAND Integration Technology)

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平面互补场效应晶体管替代金属栅工艺流程

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后段集成工艺(BEOL Integration Flow)- 2

双镶嵌工艺分为先通孔 (Via-First) 和先沟槽(Trench-First)两种技术。以先通孔....
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主侧墙和N+/P+源漏的形成

首先,沉积四乙基原硅酸盐氧化物(即使用正硅酸乙酯TEOS前驱的CVD氧化物,简称TEOS-ox)和氮....
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高K介质(High-k Dielectric)和替代金属栅(RMG)工艺介绍

高k介质(如 HfO2、HfSiOx、HfSiON)和金属栅(如TiN、TiAl、Al 或W等)模块....
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自对准硅化物 (Self -Aligned Silicide) 工艺

形成多晶硅栅和源漏之后,先用湿法或干法清除在有源区 (AA)和多晶硅栅表面的氧化物,溅射一薄层(厚度....
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前段集成工艺(FEOL)

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前段集成工艺(FEOL)-4

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嵌入式源漏选择性外延(Embedded Source and Drain Selective Epitaxy)

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应变硅(Strained Silicon)

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双重图形化技术(Double Patterning Technology,DPT)

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铝/铜互连工艺与双镶嵌法(AL/Cu Interconnect and Dual Damascenes)

铝/铜互连工艺是指将前段工艺制备的晶体管连接起来的工艺。硅片上的金属互连工艺过程是应用化学方法和物理....
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接触孔工艺是集成电路制造中的关键工艺,也是技术难度最高的工艺之一。接触孔的尺寸是集成电路工艺中最小的....
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集成电路芯片制造中的3种硅化物工艺介绍

为了降低接触电阻和串联电阻,在集成电路制造中引入了硅化物工艺,业界先后采用了可规模生产的 WSi2 ....
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高K金属栅工艺(HKMG)

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多晶硅栅(Poly-Si Gate)

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沟道工艺是集成电路的核心工艺之一,它确定了场效应晶体管的基本特性,如阈值电压、短沟道特性、噪声特性、....
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模块工艺——隔离工艺(Isolation)

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CMOS集成电路的双阱工艺简析

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模块工艺——双阱工艺(Twin-well or Dual-Well)

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干法刻蚀和清洗(Dry Etch and Cleaning)

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外延工艺(Epitaxy)

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