金鉴实验室文章

• LED芯片越亮，发热量越大，还是芯片越暗，发热量越大？2025-07-21 16:16

  

  LED芯片越亮，发热量越大，还是芯片越暗，发热量越大？遇到这个问题，相信很多人都会认为是芯片越暗，发热量越大，因为更多都能量转化成了热能。但是，事实并非如此，LED芯片越亮，发热量可能越大，也可能会越小，这是因为电流密度大小会决定芯片的光功率和热功率大小，同时温度也会影响芯片的发光效率。那么应该如何分析LED芯片的发光发热性能并加以利用？下面我们将通过金鉴显

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• SEM与TEM该如何选择?2025-07-18 21:05

  

  扫描电镜（SEM）把细束电子像画笔一样在样品表面来回扫描，电子与表层原子短暂碰撞后，释放出二次电子或背散射电子。探测器把这些信号逐点收集、放大，最后在屏幕上拼成一幅二维强度图。因为作用深度只有几纳米，SEM的图像颗粒轮廓、裂纹走向、元素衬度一目了然。透射电镜（TEM）则让高能电子直接“穿墙而过”。只有当样品被削到百纳米以下，电子才能带着晶格间距、厚度、缺陷密

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• LED支架镀层结构观察：手工磨样、氩离子抛光、FIB三种方法大PK2025-07-18 21:03

  

  制样方式由于切片分析可以获取到丰富的样品内部微观结构信息，因此被金鉴实验室广泛应用于LED支架结构观察。例如：支架镀层的厚度与均匀度，镀层内部质量、镀层晶体结构和形貌、基材的材质与质量，无一不关乎到LED使用寿命。1.手工机械研磨样虽价格便宜可观察区域面积大，但由于其受到硬度、延展性等材料性能的影响，做出来的截面常常有变形、磨痕、脱落、褶皱、热损伤等特性，产

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• FIB-SEM的常用分析方法2025-07-17 16:07

  

  聚焦离子束扫描电镜（FIB-SEM）是一种集多种先进技术于一体的微观分析仪器，其工作原理基于离子束与电子束的协同作用。扫描电子显微镜（SEM）工作机制扫描电子显微镜（SEM）的核心成像逻辑并非传统透射电镜（TEM）所依赖的多级电磁透镜放大，而是以极细的电子探针在样品表面执行“光栅式”逐点逐行扫描。电子枪产生的初始电子束经2–3级电磁透镜聚焦，最终形成直径可小

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• AEC-Q102之什么是锡须生长？2025-07-17 16:06

  

  AEC-Q102标准是由汽车电子委员会制定的一系列严格规范，目的是确保汽车使用的电子元件能够在严酷的工作环境中保持高度的可靠性和性能稳定性。在这些规范中，锡须测试占据了至关重要的地位，它专门用来评估电子元件在预期服务寿命期间产生锡须的潜在可能性。锡须测试对于维护汽车电子系统的安全性和可靠性是必不可少的，它帮助确保元件在面对高温、湿度和其他环境压力时不会发生故

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• 深度解析LED灯具发展的巨大瓶颈——热阻2025-07-17 16:04

  

  什么是热阻即热量？热阻即热量在热流路径上遇到的阻力，反映介质或介质间的传热能力的大小，表明了1W热量所引起的温升大小，单位为℃/W或K/W。可以用一个类比来解释，如果热量相当于电流，温差相当于电压，则热阻相当于电阻。通常，LED器件在应用中，结构热阻分布为芯片衬底、衬底与LED支架的粘结层、LED支架、LED器件外挂散热体及自由空间的热阻，热阻通道成串联关系

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• 什么是聚焦离子束扫描电镜（FIB-SEM）？2025-07-15 16:00

  

  工作原理聚焦离子束扫描电镜（FIB-SEM）是一种集多种先进技术于一体的微观分析仪器，其工作原理基于离子束与电子束的协同作用。1.离子束原理离子束部分的核心是液态金属离子源，通常使用镓离子。在强电场的作用下，镓离子被拉出并加速，形成高能量密度的离子束流。当这些离子束轰击样品表面时，会与样品原子相互作用，产生二次电子、背散射离子等信号。其中，二次电子信号可用于

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• 为什么有的芯片是正电极更热，有的芯片是负电极更热？2025-07-15 15:56

  

  案例分析（一）有的芯片是正电极更热，有的芯片是负电极更热！以下为两个厂家22mil*35mil尺寸大小芯片光热分布的对比。对于该尺寸大功率正装芯片，电流在芯片中横向扩展的路径较长，导致电流聚集效应更加明显，因此必须具备合理的电极图形设计以及较好的欧姆接触特性，才能使注入电流在LED芯片的有源层中均匀分布。目前许多与大功率LED芯片制造相关的关键技术问题还有待

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• 为什么LED芯片正电极要插入二氧化硅电流阻挡层，而负极没有？2025-07-14 17:37

  

  为什么LED正电极需要二氧化硅阻挡层？回答：LED芯片正极如果没有二氧化硅阻挡层，芯片会出现电流分布不均，电流拥挤效应，电极烧毁等现象。由于蓝宝石的绝缘性，传统LED的N和P电极都做在芯片出光面的同一侧，电流需横向流动。此结构的问题是掺Mg的P型GaN层电导率远低于N型GaN层，电流横向流动时的电阻较高，使得电流密度大的区域主要集中在正电极下方及附近，出现正

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• 聚焦离子束（FIB）技术在半导体中的应用与操作指导2025-07-11 19:17

  

  聚焦离子束（FIB）技术作为一种高精度的微观加工和分析工具，在半导体行业具有不可替代的重要地位。它通过聚焦离子束直接在材料上进行操作，无需掩模，能够实现纳米级精度的成像和修改，特别适合需要高精度的任务。金鉴实验室作为专注于材料分析领域的科研检测机构，能够对FIB进行严格的检测，致力于为客户提供高质量的测试服务，为产品在各个领域的可靠应用提供坚实的质量保障。F

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