金鉴实验室

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• 发布了文章 2025-07-25 13:30

  什么是冷热冲击试验

  

  试验目的与作用机理1.试验目的冷热冲击试验主要用于考核产品对周围环境温度急剧变化的适应性。通过模拟高温和低温环境的快速交替变化，观察产品是否能在温度急剧变化的情况下保持正常功能，或者是否出现材料开裂、电子元件损坏等问题‌等。2.作用机理从物理层面看，冷热冲击的本质是“瞬态热应力—材料响应—失效触发”的耦合过程。当温度变化率≥20°C/min时，材料表层与芯部

  冲击试验 试验

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• 发布了文章 2025-07-25 13:28

  透射电子显微镜（TEM）的系统化解读

  

  技术本质透射电子显微镜（TransmissionElectronMicroscope,TEM）是一种以高能电子束代替可见光、利用电磁透镜实现聚焦与放大的成像系统。其工作逻辑可以概括为：1.电子枪发射高速电子；2.超薄样品对电子产生散射、衍射或能量损失；3.散射后的电子被多级电磁透镜接力放大；4.探测器把电子信号转换为二维图像或衍射花样。由于电子波长（0.00

  TEM 显微镜

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• 发布了文章 2025-07-25 13:26

  《电器电子产品有害物质限制使用要求》资讯

  

  2025年4月21日，工业和信息化部完成对《电器电子产品有害物质限制使用要求》等3项强制性国家标准（报批稿）的意见征集。该标准是我国RoHS管控体系中首次以“强制性国家标准”形式发布的顶层文件，标志着电器电子行业有害物质限制使用管理进入“法规—标准—实施”一体化的新阶段。标准在整合GB/T26572-2011《电子电气产品中限用物质的限量要求》与SJ/T11

  电器

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• 发布了文章 2025-07-25 13:24

  同样材料，为什么铝基覆铜板和成品铝基板的导热系数测试结果不一样？

  

  市场上的LED灯具经常发生因为散热不足而导致死灯等问题，因此LED的散热问题就成了LED厂商最头痛的问题，大家都明白保持LED长时间持续高亮度的重点是采用导热能力强的铝基板，而铝基板的导热系数则是评价铝基板质量的重中之重。市面上铝基板的导热系数标称值有1.0，1.5，2.0，然而很多出现问题的灯具厂商对灯具进行失效分析后，发现铝基板导热系数并没有标称值所示，

  导热系数 材料 铝基板

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• 发布了文章 2025-07-24 11:34

  FIB在半导体分析测试中的应用

  

  FIB介绍聚焦离子束（FIB）技术作为一种高精度的微观加工和分析工具，在半导体失效分析与微纳加工领域，双束聚焦离子束（FIB）因其“稳、准、狠、短、平、快”的技术特征，被业内誉为“微创手术刀”。它通过聚焦离子束直接在材料上进行操作，无需掩模，能够实现纳米级精度的成像和修改，特别适合需要高精度的任务。截面量测以镓离子源为核心，FIB技术通过精确调控离子束与样品

  fib 半导体 测试

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• 发布了文章 2025-07-24 11:30

  LED灯珠来料检验

  

  灯珠是LED灯具最核心的原物料，直接决定了灯具的性能和可靠性。大多LED照明厂商出于投资回报比的考量，并未采购专业的微观结构检测设备，也缺乏材料学科的专业技术人员。LED灯珠来料检验的优点1.来料检验，封装工艺检查，及时排查不合格的LED灯珠批次灯珠品质是影响LED灯具产品质量的最重要因素，灯珠品质又与封装工艺、物料微观结构息息相关，如不合格的引线键合工艺会

  led 灯珠

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• 发布了文章 2025-07-23 17:04

  EBSD测试主要测什么?

  

  EBSD技术，即电子背散射衍射技术，是一种在材料科学领域中广泛应用的分析技术。它通过与扫描电子显微镜（SEM）的结合使用，能够提供材料表面下微观结构的详细信息，包括晶粒的取向、晶界类型、再结晶碳化物、显微织构、相鉴别以及晶界特征等。这些信息对于理解材料的力学性能、热处理过程、相变行为以及微观结构与宏观性能之间的关系至关重要。EBSD技术的工作原理EBSD技术

  测试

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• 发布了文章 2025-07-22 14:54

  什么是超声波扫描显微镜技术？

  

  超声波的基本概念与属性超声波，这种声波的频率超出了人类听觉的极限，即超过20000赫兹。它们在物理特性上与普通声波相似，但由于频率极高，使得人类耳朵无法感知。超声波在遇到真空时无法传播，且在频率达到10MHz以上时，也无法穿透空气。这种声波展现出几个独特的属性：它们在遇到空气时会发生全反射，能够在各种界面上产生反射，并且由于波长极短，它们能够像光线一样沿直线

  显微镜 超声波

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• 发布了文章 2025-07-22 14:53

  电子背散射衍射（EBSD）技术原理与数据解读

  

  电子背散射衍射（EBSD）技术是一种高效的材料分析手段，它依赖于对电子束与材料相互作用后产生的背散射电子衍射图样进行分析，以获得材料晶体学的特征。该技术能够揭示材料内部的微观构造、晶体的朝向、相态的组成以及织构特征等重要参数，对推动材料科学研究和实际生产中的应用具有显著的价值。EBSD系统的组成EBSD系统通常集成在扫描电子显微镜（SEM）中，其基本组成部分

  材料

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• 发布了文章 2025-07-22 14:48

  X-Ray检测技术及其应用

  

  X-Ray检测技术自20世纪70年代开始应用于工业领域以来，凭借其在微米范围内对材料缺陷分析的高精度优势，逐渐成为无损检测领域的重要技术手段。随着电子产品的微小化以及对元部件可靠性要求的不断提高，X-Ray检测技术在材料无损检测中的应用日益广泛，并且随着技术的不断革新，其应用范围也在持续拓展。X-Ray检测的基本原理微焦点X-Ray检测的核心原理是利用X射线

  x-ray 工业 检测

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