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关键参数 - 晶振与晶体的参数详细介绍

2016年05月20日 15:03 网络 作者:佚名 用户评论(0

  4. 关键参数

  4.1 标称频率

  指晶体元件规范中所指定的频率,也即用户在电路设计和元件选购时所希望的理想工作频率。

  4.2 调整频差

  基准温度时,工作频率相对于标称频率的最大允许偏离。常用ppm(1/106)表示。

  4.3 温度频差

  在整个温度范围内工作频率相对于基准温度时工作频率的允许偏离。常用ppm(1/106)表示。

  4.4 老化率

  指在规定条件下,由于时间所引起的频率漂移。这一指标对精密晶体是必要的,但它“没有明确的试验条件,而是由制造商通过对所有产品有计划抽验进行连续监督的,某些晶体元件可能比规定的水平要差,这是允许的”(根据IEC的公告)。老化问题的最好解决方法只能靠制造商和用户之间的密切协商。

  4.5 谐振电阻(Rr)

  指晶体元件在谐振频率处的等效电阻,当不考虑C0的作用,也近似等于所谓晶体的动态电阻R1或称等效串联电阻(ESR)。这个参数控制着晶体元件的品质因数,还决定所应用电路中的晶体振荡电平,因而影响晶体的稳定性以致是否可以理想的起振。所以它是晶体元件的一个重要指标参数。一般的,对于一给定频率,选用的晶体盒越小,ESR的平均值可能就越高;绝大多数情况,在制造过程中并不能预计具体某个晶体元件的电阻值,而只能保证电阻将低于规范中所给的最大值。

  4.6 负载谐振电阻(RL)

  指晶体元件与规定外部电容相串联,在负载谐振频率FL时的电阻。对一给定晶体元体,其负载谐振电阻值取决于和该元件一起工作的负载电容值,串上负载电容后的谐振电阻,总是大于晶体元件本身的谐振电阻。

  4.7 负载电容(CL)

  与晶体元件一起决定负载谐振频率FL的有效外界电容。晶体元件规范中的CL是一个测试条件也是一个使用条件,这个值可在用户具体使用时根据情况作适当调整,来微调FL的实际工作频率(也即晶体的制造公差可调整)。但它有一个合适值,否则会给振荡电路带来恶化,其值通常采用10pF、15pF 、20pF、30pF、50pF、∝等,其中当CL标为∝时表示其应用在串联谐振型电路中,不要再加负载电容,并且工作频率就是晶体的(串联)谐振频率Fr。用户应当注意,对于某些晶体(包括不封装的振子应用),在某一生产规范既定的负载电容下(特别是小负载电容时),±0.5pF的电路实际电容的偏差就能产生±10×10-6的频率误差。因此,负载电容是一个非常重要的订货规范指标。

  4.8 静态电容(C0)

  等效电路静态臂里的电容。它的大小主要取决于电极面积、晶片厚度和晶片加工工艺。

  4.9 动态电容(C1)

  等效电路中动态臂里的电容。它的大小主要取决于电极面积,另外还和晶片平行度、微调量的大小有关。

  4.10 动态电感(L1)

  等效电路中动态臂里的电感。动态电感与动态电容是一对相关量。

  4.11 谐振频率(Fr)

  指在规定条件下,晶体元件电气阻抗为电阻性的两个频率中较低的一个频率。根据等效电路,当不考虑C0的作用,Fr由C1和L1决定,近似等于所谓串联(支路)谐振频率(Fs)。这一频率是晶体的自然谐振频率,它在高稳晶振的设计中,是作为使晶振稳定工作于标称频率、确定频率调整范围、设置频率微调装置等要求时的设计参数。

  晶振与晶体的参数详细介绍

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( 发表人:方泓翔 )

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