OTDR PON测试方案(2)
2011年05月30日 09:31 光电新闻网 作者：秩名 用户评论（0）
a. 电子器件的临界稳定性(注意，下图所示曲线并非来自 EXFO OTDR)
b. 强拖尾效应
c. 不合适的人为增益情况和不适合 PON 链路测试的设计
图1 (a)、(b)、(c)：使用非 PON 优化型 OTDR 获得的 1x32 分光器之后的 OTDR 曲线示例
- 第 1 页：OTDR PON测试方案(1)
- 第 2 页：阶跃响应严重失真#
- 第 3 页：PON 优化型 OTDR#
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( 发表人：叶子 )