YCT1400A光耦参数测试仪
1、YCT1400A光耦参数测试仪产品简述
YCT1400A光耦参数测试仪是一款布局紧凑、功能全面、界面友好、操作简洁的单机测试仪器。专为各类光耦参数测试而设计开发，可测试各类单通道、双通道、多通道的模拟光耦，数字光耦，高速光耦，线性光耦等。测试参数包括“耐压BVCEO/BVECO"“输入正向压降 VF”、“输出端反向漏电流 ICEO”、“反向漏电流 IR”“电流传输比 CTR""箱出导通压降 VCE(sat)"…可测具体参数数值也可以进行筛选性测试，既合格/不合格(OK/NO).
产品前面板设有“显示屏区域”“操作按键区域”“接口区域”。基于飞思卡尔16 位单片机编程的操作程序包含测试程序编辑、程序调用、数据保存、功能类型等常规设置。10档位分档设计，耐压测试电压1400V/可扩展，测试正向压降和输出电流可达 1A/可扩展。
2、YCT1400A光耦参数测试仪产品特点
测试各类三极管型的光电耦合器
1通道、10档位
源自飞思卡尔 16 位单片机编程
大容量 EEPROM 存储器可达 1000 种设置型号数
可编程的 DUT 恒流源和电压源
内置继电器矩阵自动切换信号通道
高压测试电流分辨率1uA,测试电压高达1400V
重复”回路”式测试解决了元件发热和间歇的问题
桌面台式单机，软件自校准功能
3、YCT1400A光耦参数测试仪参数指标
耐压BVCEO/BVECO
测试范围0-1400V
分辨率1V精度<2%+2RD测试条件0-2mA
输入正向压降VF
测试范围0-2V
分辨率2mV精度<1%+2RD测试条件0-1000mA
输出端反向漏电流ICEO
测试范围0-2000uA
分辨率1UA精度<5%+5RD测试条件BVCE=25V
反向漏电流IR
测试范围0-2000uA
分辨率1UA精度<5%+5RD测试条件VR=0-20V
电流传输比CTR
测试范围0-9999
分辨率1%精度1%+5RD测试条件BVCE:0-20V测试条件IF:0-100mA
输出导通压降VCE(sat)
测试范围0-2.000V
分辨率2mV精度1%+5RD测试条件IC:0-1.000A测试条件IF:0-1.000A
