是将 ST 芯片（TO‑247、D²PAK、QFN、SO‑8 等封装）压入接触探针的测试座
装在 ATE（自动测试设备）上进行参数分选
连接示波器、功率分析仪、双脉冲测试台或栅极驱动电路
可进行：静态 IV 测试、动态 Rds(on)、开关损耗、双脉冲测试（DPT）
STI（Scientific Test, Inc.）测试夹具是美国 STI 公司为其 5000 系列分立器件参数测试仪（如 5000E/5300C/5300HX）配套的标准化测试夹具（Test Fixture），用于将被测分立半导体器件（二极管、BJT、MOSFET、IGBT 等）可靠接入测试系统，尤其以开尔文四线制（Kelvin Connection）设计著称，适合功率器件 Rds(on)、Vf 等低阻参数精密测试。
STI 5000 系列夹具核心特点
| 特性 | 说明 |
|---|---|
| 开尔文四线制 | Force（电流激励）与 Sense（电压采样）独立走线，消除引线/接触电阻影响，保证低阻测量精度 |
| 模块化封装适配 | 不同型号对应不同封装（TO系列、DPAK、SOP、DFN、SO-8 等），换夹具即可在同台主机测多种器件 |
| 接触件 | 镀金探针/弹簧夹，长期接触电阻稳定 |
| 防呆设计 | 清晰引脚标识，防止器件反插损坏 |
| 兼容主机 | STI 5000E / 5300C / 5300HX 等分立器件参数分析仪 |
