中图仪器文章

• 以精密测量技术助力智能制造，中图仪器与您相约ITES深圳工业展2025-03-19 10:29

  

  3月26-29日，中图仪器将携多款自主研发的的先进精密测量设备亮相2025ITES深圳国际工业制造技术及设备展览会，全方位展示覆盖工业制造全链条的尖端测量解决方案，助力企业突破精度瓶颈，迈向智能制造新高度！诚邀您莅临展会现场，探寻精密测量技术在工业智造领域的无限可能！ITES深圳国际工业制造技术及设备展览会时间：2025年3月26-29日地点：深圳国际会展中

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• 三坐标测量机按结构形式包含了哪些类型？2025-03-14 14:21

  

  移动桥架型三坐标测量机是一种常见的精密测量设备。桥架结构稳固，移动部件的运动精度高，能够实现高精度的测量。水平梁两端被支撑，可有效减少梁的挠度，保证测量的准确性，适用于对精度要求极高的零部件测量。

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• 扫描电镜中的“深圳春天”2025-03-12 16:10

  

  春日的深圳，仿佛被大自然打翻了调色盘，满城尽是绚丽的色彩。黄花风铃木在街头绽放，金黄的花朵如风铃般摇曳，带来春天的第一抹明媚；三角梅在园博园中铺成“花海瀑布”，粉红的花朵倾泻而下，浪漫而震撼；紫荆花也不甘示弱，紫红色的花朵如蝴蝶般轻盈，为城市增添一抹优雅。在我们CEM3000扫描电子显微镜的镜头下，春天的美丽以另一种形式绽放，我们来看一看微观世界中的春日盛宴

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• 扫描电子显微镜的应用场景有哪些？2025-03-12 15:01

  

  扫描电子显微镜（SEM）具有高分辨率、大景深、可观察多种信号等特点，在多个领域都有广泛的应用场景，以下是一些主要的应用方面：一、材料科学领域-金属材料研究：用于观察金属材料的微观组织结构，如晶粒大小、形态和分布，分析金属材料在热处理、加工过程中的组织变化，研究金属材料的断口形貌，判断断裂模式，为材料的性能优化和失效分析提供依据。-半导体材料研究：可以清晰观察

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• 中图仪器邀您相约2025慕尼黑上海光博会，共探测量科技新未来2025-03-10 14:17

  

  在科技浪潮不断奔涌向前的时代，光学与测量技术的创新发展，正深刻地改变着各个行业的发展轨迹。2025年3月11日-3月13日，备受瞩目的慕尼黑上海光博会即将在上海新国际博览中心盛大举行。深圳市中图仪器股份有限公司将携众多明星产品精彩亮相E7馆7336展位，诚邀您共赴这场科技盛宴，一同探索测量科技的全新未来。一、中图仪器：精密测量领域的璀璨之星中图仪器自2005

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• 三坐标测量机的机器坐标系和原点介绍2025-03-10 10:34

  

  三坐标测量机的机器坐标系和原点是其测量系统中的重要概念，以下是详细介绍：一、机器坐标系（1）定义：机器坐标系是三坐标测量机固有的坐标系，是测量机进行测量和数据处理的基础。它是基于测量机的机械结构建立的，通常采用笛卡尔直角坐标系，由相互垂直的X、Y、Z三个坐标轴组成。（2）特点-唯一性：每台三坐标测量机都有且仅有一个确定的机器坐标系，其坐标轴的方向和原点位置在

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• 一文读懂：移动桥架型三坐标，如何在多领域重塑生产质量？2025-03-07 15:09

  

  移动桥架型是三坐标测量机最常用的结构。Z轴为主轴在垂直方向移动，厢形架导引主轴沿水平梁在X方向移动，水平梁垂直Z轴且被两支柱支撑于两端，梁与支柱形成“桥架”，桥架沿着两个在水平面上垂直X和Z轴的导槽在Y轴方向移动。梁的两端被支撑，可得到最小的挠度，比悬臂型精度高。移动桥架型三坐标测量机是一种常见的精密测量设备，以下是其优点、具体应用及对企业的价值所在：一、优

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• 精准无界，光启未来|中图仪器邀您共赴2025慕尼黑上海光博会2025-03-04 15:46

  

  2025慕尼黑上海光博会即将开启！中图仪器作为中国精密尺寸测量领域的创新标杆，将在本次展会集中展示覆盖微纳米级到百米级尺寸的全产业链测量解决方案，以硬核科技助力工业检测技术智能化、高效化发展。诚邀您莅临展会现场，解锁尖端测量技术与行业应用深度融合的无限潜能！2025慕尼黑上海光博会时间：2025年3月11-13日地点：上海新国际博览中心展位：E7馆7336展

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• 扫描电子显微镜（SEM）有哪些分类？2025-03-04 10:01

  

  扫描电子显微镜（SEM）有多种分类方式，具体如下：1、按电子枪种类分类（1）钨丝枪扫描电镜：使用热钨极电子枪，阴极为能加热的钨丝。优点是结构简单、成本较低、适用性强、维护费用低；缺点是亮度有限，束斑直径较大，分辨率相对较低，一般为6nm左右。（2）六硼化镧扫描电镜：用六硼化镧阴极替代钨丝阴极。其亮度比热钨丝阴极电子枪高一个数量级，可使分辨率提高到4-5nm，

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• 扫描电子显微镜（SEM）类型和原理2025-03-04 09:57

  

  扫描电子显微镜（SEM）原理电子枪产生的电子束经聚光镜和物镜聚焦后，形成极细的电子束在样品表面进行逐点扫描。电子束与样品表面相互作用，激发出二次电子、背散射电子等信号。其中二次电子对样品表面的形貌非常敏感，这些二次电子被探测器收集，转换为电信号，再经过处理后在显像管或显示屏上形成反映样品表面形貌的三维图像。应用场景：主要用于观察样品的表面形貌，如材料的断口、

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