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• 发布了文章 2025-07-04 17:06

  新品速递 | CCS推出大功率线光源LN2系列

  

  近年来，随着充电电池电极片和薄膜片市场的增长，线扫相机市场不断扩大，由于检测的分辨率和速度越来越高，因此需要更高功率的照明。特别是在检测低反射率产品(如深色橡胶板)或透光产品(如透明薄膜板)时，检测对象反射的光量较低，当传输速度或分辨率提高时，传统产品缺乏足够的亮度。为了解决上述问题，CCS宣布推出用于图像处理检测的新型线扫描成像“照明系统LN2系列，该产品

  CCS 光源 大功率

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• 发布了文章 2025-07-04 15:14

  如何选择合适的工业相机快门种类

  

  在需要拍摄高速运动物体的场景中，全局快门传感器是最佳选择。而对于移动缓慢或静止的物体（如显微镜等科学应用场景），卷帘快门传感器则更为适合。

  工业相机 测量 电信号

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• 发布了文章 2025-06-27 17:04

  自动对焦技术助力TGV检测 半导体检测精度大突破

  

  在半导体与封装行业中，许多检测场景要求对大面积玻璃基板进行高速检测时，能达到更高的检测精度和效率。这就对检测中采用的TGV（玻璃通孔）技术有了更高要求。随着5G、人工智能（AI）以及高性能计算（HPC）等领域的需求迅速增长，基于TGV的超精密加工技术也变得愈发关键。01TGV检测技术的优势TGV是一种采用玻璃基板的高密度互连方法，TGV检测主要分析的是基板中

  半导体 检测 自动对焦

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• 发布了文章 2025-06-24 17:25

  光纤在机器视觉应用中的优势

  

  机器视觉中工业相机的数据接口是连接相机与主机或图像处理系统的关键部件，决定了数据传输速度、实时性、兼容性等性能。以下是常见的工业相机数据接口类型：1.USB接口USB3.0/3.1/3.2（USB3Vision标准）带宽：5Gbps（USB3.0）、10Gbps（USB3.1）、20Gbps（USB3.2）。特点：带宽提升，支持更高帧率和分辨率；兼容USB2

  光纤 数据接口 机器视觉

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• 发布了文章 2025-06-20 17:01

  掌握工业镜头选型秘籍，轻松实现精准成像

  

  在工业自动化、机器视觉、智能检测等领域，工业镜头作为工业相机的“眼睛”起着重要作用，选择合适的镜头才能让成像更精准、高效。那么如何进行工业镜头的选型呢？下面我们一起来看下选型要点吧。1选型前的准备在选择工业镜头时，首先需要明确相机的相关参数。01传感器尺寸需要根据相机芯片的大小来确定镜头的靶面大小，镜头成像需完全覆盖相机传感器，否则会出现“黑边”或边缘畸变。

  工业相机 工业镜头

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• 发布了文章 2025-06-16 17:33

  如何为工业相机匹配最佳的镜头

  

  工业镜头选型为什么重要？工业镜头与普通相机镜头不同，它的核心任务是满足‌高精度、稳定性、环境适应性‌等严苛需求。选型不当可能导致：成像模糊：影响缺陷检测或尺寸测量精度；成本浪费：高价镜头无法适配实际场景；系统卡顿：镜头与相机、光源不匹配，拖慢处理速度。选型要精准匹配需求。在工业自动化、机器视觉、智能检测等领域，工业镜头作为工业相机的“眼睛”起着重要作用，选择

  工业相机 检测

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• 发布了文章 2025-06-06 17:08

  特励达的INFINITY色彩预设实现色彩精度，帮助工业相机捕捉精准、可靠的图像

  

  色彩精度对于明场显微镜至关重要，无论是分析苏木精和伊红（H&E）染色切片、开发AI辅助诊断模型，还是进行全片成像。然而，实现真实的色彩保真度并非易事。不同传感器捕捉色彩的方式存在差异，光照条件也会进一步影响精度。此外，手动色彩校正不仅耗时，还难以保持一致性和跨系统的标准化。传感器的光谱响应和显微镜光照的变化可能导致色彩偏移，进而影响人类诊断和AI模型的性能。

  传感器 工业相机 显微镜

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• 发布了文章 2025-06-06 17:02

  Spinnaker 4 SDK助力扩展多相机成像系统

  

  扩展多相机成像系统是系统集成商和机器制造商面临的一项技术挑战。网络拥堵、CPU过载、同步错误以及配置复杂性等问题常常会给成功构建包含大量GigE相机的系统造成诸多阻碍。最近，Teledyne通过交换机将40多台GigE相机连接到一台PC，成功运行了相机系统。即使在极限压力下，系统依然连续运行了数天，期间没有出现帧丢失或错误。这一成就得益于Spinnaker4

  工业相机 成像系统 相机成像

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• 发布了文章 2025-05-23 16:03

  晶圆隐裂检测提高半导体行业效率

  

  半导体行业是现代制造业的核心基石，被誉为“工业的粮食”，而晶圆是半导体制造的核心基板，其质量直接决定芯片的性能、良率和可靠性。晶圆隐裂检测是保障半导体良率和可靠性的关键环节。晶圆检测通过合理搭配工业相机与光学系统，可实现亚微米级缺陷检测，提升半导体制造的良率和效率。SWIR相机晶圆隐裂检测系统，使用红外相机发挥波段长穿透性强的特性进行材质透检捕捉内部隐裂缺陷

  半导体

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• 发布了文章 2025-05-21 16:55

  机器视觉助力轨道缺陷检测

  

  机器视觉检测助力轨道检测

  机器视觉 缺陷检测

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