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• 发布了文章 2026-08-03 15:01

  光有源器件温循测试哪家强？广东宏展科技快温变箱交出CPO芯片答卷

  

  一、CPO芯片温循测试：量产质检的核心关卡1.1共封装光学芯片的温度可靠性挑战共封装光学（CPO）技术将光引擎与交换芯片封装在同一基板上，大幅缩短了光信号与电信号之间的传输路径。但这种高密度集成也带来了新的可靠性问题——光芯片、电芯片、封装基板等不同材料的热膨胀系数存在显著差异。硅（CTE≈2.6ppm/℃）、砷化镓（CTE≈5.7ppm/℃）、陶瓷基板（C

  CPO 芯片 高低温测试

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• 发布了文章 2026-08-01 15:29

  广东宏展科技光引擎 CPO 温度循环箱——核心子系统可靠性验证

  

  一、光引擎在CPO架构中的核心地位与温循测试意义共封装光学（CPO）架构将光引擎与交换芯片共同封装在同一基板上，实现了光电的深度融合。在整个CPO架构中，光引擎承担着光电信号转换、光信号收发、光耦合等核心功能，是CPO器件最重要的子系统之一。光引擎的性能和可靠性直接决定了整个CPO器件的性能和寿命。光引擎通常集成了激光器阵列、探测器阵列、驱动芯片、放大芯片、

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• 发布了文章 2026-07-31 15:55

  广东宏展科技快速温变 CPO 测试箱 —— 加速研发的高效利器

  

  一、快速温变测试：缩短CPO产品研发周期的关键手段共封装光学（CPO）技术正处于快速发展阶段，产品迭代速度快，研发周期紧。在CPO产品的研发过程中，温度可靠性测试是必不可少的关键环节，需要通过大量的温度循环测试来验证产品设计的可靠性、优化工艺参数、筛选失效模式。然而，传统的慢速温变测试周期长、效率低，往往成为研发进度的瓶颈。快速温变测试（RapidTempe

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• 发布了文章 2026-07-30 15:43

  广东宏展科技 CPO 耦合组件恒温试验箱 —— 精密光学耦合测试的稳定保障

  

  一、CPO耦合组件恒温测试的重要性与必要性共封装光学（CPO）技术的核心在于光信号的高效耦合与传输。CPO耦合组件作为光引擎与外部光纤之间的桥梁，承担着光信号耦合、对准、传输的关键功能，其性能直接影响整个CPO器件的插入损耗、回波损耗、耦合效率等核心指标。CPO耦合组件通常由透镜、棱镜、光波导、光纤阵列、耦合结构等精密光学元件组成，各元件之间的对准精度直接决

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• 发布了文章 2026-07-29 15:12

  温变曲线精准可控——广东宏展科技共封装光学温循箱技术解析

  

  一、温度循环测试：共封装光学器件量产前的必过关卡共封装光学（CPO）技术将光引擎与电芯片共同封装，大幅提升了光互连的集成度和能效比。然而，封装密度的提高也带来了新的可靠性挑战——CPO器件内部集成了多种不同材料的元件，包括硅基光波导、III-V族激光器、金属电极、有机封装材料等，各类材料的热膨胀系数存在显著差异。在温度变化过程中，不同材料的膨胀和收缩速率不一

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• 发布了文章 2026-07-28 15:22

  广东宏展科技高低温试验箱：二元复叠制冷+冷平衡节能技术，支持CPO器件长时间连续温循测试

  

  一、CPO器件宽温域测试的现实需求1.1共封装光学器件的热应力挑战共封装光学（CPO，Co-PackagedOptics）技术将光引擎与交换芯片封装在同一基板上，显著缩短了光信号与电信号之间的传输路径。CPO器件在实际工作环境中面临复杂的热应力挑战。光模块内部激光器工作时产生热量，数据中心机架环境温度波动，设备开关机带来的温度骤变，都可能导致CPO封装内部不

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• 发布了文章 2026-07-27 16:11

  宏展在线式高低温循环试验箱：免霜设计+视窗透视，重塑光模块产线测试效率

  

  一、光模块产线温循测试的效率困局1.1温度循环：光模块出厂前绕不过的工序一只10GSFP+光模块，在户外基站的机箱里要承受-40℃的寒冬与85℃的盛夏；一只800G光模块，在数据中心的机柜中要保证长期不出现波长漂移。不做高低温循环测试就出厂，等于把隐患交给客户。温度循环试验的原理并不复杂——将光模块在高温与低温之间反复切换，利用产品交替膨胀与收缩产生的热应力

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• 发布了文章 2026-07-25 16:35

  宏展科技光通信温湿度试验箱：温湿双参数可程式编程满足GR-468湿热试验要求

  

  一、光通信产品温湿度复合测试的现实需求1.1光模块实际使用中的温湿环境挑战光通信模块的部署场景覆盖了从室内数据中心到户外基站的广泛环境。数据中心内部虽然温度相对可控，但高密度机架布局导致局部热积聚，服务器与交换设备产生的热量使光模块长期处于较高温度环境中。而户外基站、街边柜等场景则面临更为严苛的考验——夏季高温高湿、冬季低温干燥、昼夜温差大、雨季湿度接近饱和

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• 发布了文章 2026-07-24 15:24

  广东宏展科技TC系列温循箱：为CPO芯片温度循环测试提供全温域验证方案

  

  一、CPO芯片温度循环测试：从“可选”到“必选”1.1共封装光学芯片的热可靠性挑战共封装光学（CPO，Co-PackagedOptics）技术将光引擎与交换芯片封装在同一基板上，大幅缩短了光信号与电信号之间的传输路径。但这种高密度集成也带来了新的可靠性问题——光芯片、电芯片、封装基板等不同材料的热膨胀系数存在显著差异。在温度变化过程中，不同材料的膨胀与收缩不

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• 发布了文章 2026-07-15 10:25

  不拆解·不降速·不漏液：广东宏展科技快温变箱的AI整柜测试实战

  

  一、AI服务器整柜验证的现实困境1.1整柜测试：服务器上市前绕不开的一关在AI服务器产品上市前，整柜级系统可靠性验证是必不可少的环节，也是测试难度最大的环节。与单主板、单部件测试不同，整柜测试需要将完整配置的42U服务器机柜整体放入试验箱，在服务器满负载运行的状态下完成温度循环、高温高湿、低温存储等一系列测试，模拟设备在运输、部署、运行过程中可能遇到的各种极

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