宏展仪器

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• 发布了文章 2026-08-14 15:35

  Lab Companion试验设备对标GR‑468‑CORE，完成非气密封装光电器件湿热可靠性测试

  

  一、行业现状：GR‑468‑CORE针对非气密光电器件湿热测试的现实意义在国内光电子器件量产质检、第三方可靠性认证工作当中，GR‑468‑CORE作为光通信行业光电子器件可靠性管控的核心标准，区分出气密封装、非气密封装两类元器件的检测条款。气密封装元器件依靠金属外壳隔绝水汽侵入，而TO‑树脂封装、胶体封装透镜、无源耦合元件这类非气密产品，封装结构存在水汽可渗

  高低温测试 高低温测试机 高低温试验箱

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• 发布了文章 2026-08-13 15:53

  广东宏展车规快温变箱：5~25℃/min线性速率，助AEC-Q100认证通关

  

  一、车规芯片温循测试的现实需求1.1车载芯片的真实“冰火试炼”一辆现代汽车内部搭载的电子控制单元和芯片数量已超过百个，从发动机控制单元到变速箱控制器，从车载娱乐系统到自动驾驶感知芯片，遍布车辆的各个角落。而这些芯片的工作环境各不相同，复杂程度远超消费电子产品。安装在发动机舱附近的芯片，要承受的是极热环境的反复炙烤。发动机运行时，舱内温度常年维持在80℃至12

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• 发布了文章 2026-08-12 15:49

  广东宏展科技冷平衡节能技术：破解传统快温变箱“一边制冷一边加热”的能量抵消困局

  

  一、快速温变试验箱的能耗真相：实验室里的“电老虎”1.1为什么快速温变箱总是能耗居高不下？快速温变试验箱需要在极短时间内完成大幅度的温度升降——例如从-70℃升至150℃或反向，这就要求制冷系统和加热系统同时具备强大的输出能力。一台100L的普通高低温箱功率约5-8kW，而同规格的快速温变箱功率可达8-20kW。功率的成倍增长，直接反映在电费账单上：据行业数

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• 发布了文章 2026-08-11 16:46

  东莞制造·宏展科技TS3系列：样品静止设计，避免芯片测试振动损伤

  

  一、半导体芯片温度冲击测试的现实需求1.1芯片在温度冲击下的失效风险半导体芯片从晶圆制造到封装测试，每一个环节都面临温度应力的考验。芯片在制造、封装、运输和使用过程中，会经历反复的温度变化——从封装过程中的高温固化，到工作环境中的温度波动，再到极端条件下的冷热交替。不同材料（硅、金属引线、环氧树脂、焊料等）的热膨胀系数存在显著差异，在温度快速变化时会产生不同

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• 发布了文章 2026-08-10 15:53

  降本增效优选：广东宏展科技 TC 系列节能型温度循环试验箱实操解析

  

  一、长周期温度循环测试的现实能耗与运维痛点在消费电子、半导体、车载电子可靠性实验室日常运营中，温度循环属于高时长、高频次测试项目。按照JESD47、AEC-Q100配套标准，半导体芯片需完成1000次完整循环，车载元器件循环时长普遍达到数百小时，设备7×24小时连续运行成为常态。市面常规温循设备普遍采用定频单级制冷结构，存在三大现实短板：其一，恒温阶段压缩机

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• 发布了文章 2026-08-08 16:21

  广东宏展TC系列快速温变试验箱：以精准温场与线性温变复现产品热应力失效

  

  研发失效分析工程师在定位产品早期失效时，常常遇到一类典型现象：样品在温度循环测试中出现电气功能丧失或物理结构损伤，深入切片后发现BGA焊球颈部疲劳裂纹、塑封体与引线框架界面分层、芯片钝化层微裂纹。其根本机理在于半导体封装由硅芯片（CTE约2.6ppm/℃）、环氧模塑料（CTE约8~12ppm/℃）、铜引线框架（CTE约17ppm/℃）、无铅焊料（CTE约21

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• 发布了文章 2026-08-07 16:44

  高低温温循箱怎么选？广东宏展TC系列快速温变循环箱选型全解析

  

  价设备踩坑——省了设备钱，赔了认证费在企业采购温度循环试验箱的决策中，一个反复出现的现实问题是：部分低价设备在硬件参数上无法满足JEDEC等国际标准的硬性要求，导致产品认证测试无法通过，企业不得不重新购买合规设备，前期投入的设备成本、测试周期、人力工时全部打了水漂。以JESD22-A104温度循环标准为例，该标准对温变速率、温场均匀性、四段式温控流程均有明确

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• 发布了文章 2026-08-06 15:53

  广东宏展科技TC系列与TS系列：热应力与失效机理的深度工程解析

  

  温度测试的本质——用热应力加速暴露缺陷高低温可靠性测试的本质，从来不是简单地“把产品放进冷热箱里走一遍”。其核心工程逻辑在于：依靠温度变化产生的热机械应力，加速暴露产品在常规使用条件下难以显现的潜在缺陷。当温度发生变化时，不同材料因热膨胀系数（CTE，CoefficientofThermalExpansion）的差异，会产生不同速率的膨胀或收缩。这种CTE不

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• 发布了文章 2026-08-05 16:33

  宏展TC系列温度循环与TS系列温度冲击：从设备参数到标准合规——半导体可靠性测试

  

  标准混淆与实操违规——测试数据失效的行业现实在半导体、汽车电子、通信设备等行业的可靠性测试中，JESD22-A104温度循环标准与JESD22-A106B热冲击标准是两项最常被引用的JEDEC测试规范。然而在实际实验室操作中，标准混淆、参数设错、设备混用的现象普遍存在——用温度循环箱按照热冲击标准的参数运行、用热冲击箱跑温度循环的长时间保温程序、对温变速率不

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• 发布了文章 2026-08-04 15:21

  广东宏展科技试验设备的温度循环与温度冲击测试辨析

  

  在电子元器件、PCBA电路板及终端整机产品的环境可靠性测试中，温度循环（TemperatureCycling）与温度冲击（ThermalShock）是两类核心高低温加速老化测试项目。实操过程中，常出现测试条件、执行标准、设备选型混用的问题，导致测试数据失真、产品可靠性验证失效。本文结合广东宏展科技设备参数，从设备特性、测试原理、执行标准、试验流程、核心参数等

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