伯东企业（上海）有限公司

动态

• 发布了方案 2023-12-01 14:24

  inTEST ATS-710 车载芯片高低温测试解决方案

  

  上海伯东美国 inTEST ThermoStream  高低温冲击热流仪, 为车载芯片提供稳定和高效的温度测试解决方案, 保证车规产品的高安全性, 高可靠性和高稳定性, inTEST 高度适配各类测试平台, 协助企业生产研发符合 AEC-Q100 可靠性认证的车载芯片.

  车载芯片 高低温测试

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• 发布了方案 2023-12-01 14:13

  inTEST Sigma 高低温试验箱材料拉伸测试

  

  上海伯东代理美国 inTEST Sigma 高低温试验箱通过可设计的孔径, 端口直接集成到拉伸测试装置. 将温度测试与拉伸测试相结合, 进行材料拉伸高低温试验. 温度范围 -185°C 至 500°C, 符合 ASTM, MIL-STD 测试要求.

  测试 设备 高低温试验箱

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• 发布了产品 2023-12-01 10:58

  inTEST Sigma M256 高低温试验箱

  

  产品型号：Sigma M256 产地：美国 腔室体积：255 L

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• 发布了产品 2023-12-01 10:55

  inTEST Sigma M170 高低温试验箱

  

  产品型号：Sigma M170 产地：美国 温度范围：-185°C 至 400°C 腔室体积：165 L

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• 发布了产品 2023-12-01 10:19

  inTEST Sigma M58 高低温试验箱

  

  产品型号：Sigma M58 产地：美国 宽温度范围：-185 °C 至 500°C 腔室体积：59 L

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• 发布了产品 2023-12-01 10:06

  inTEST Sigma M10 高低温试验箱

  

  产品型号：Sigma M10 产地：美国 宽温度范围：-185°C 至 500°C 腔室体积：10 L

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• 发布了产品 2023-12-01 09:39

  inTEST Sigma 高低温试验箱, 温度环境试验箱

  

  产品型号：Sigma 品牌：inTEST 产地：美国 温度范围：-185°至 +500°C

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• 发布了文章 2023-11-09 15:31

  氦质谱检漏仪应用于半导体新材料和设备管道检漏

  

  上海伯东提供半导体新材料和设备管道检漏解决方案, 助力企业生产高质量的六氯乙硅烷 Si₂Cl₆. 六氯乙硅烷广泛应用于有机硅化合物的合成, 电子半导体材料制造.

  半导体 新材料 设备

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• 发布了文章 2023-08-07 14:35

  氦质谱检漏仪应用于真空镀膜生产线

  

  Si3 N4 氮化硅镀膜系统. 在某次维护之后, 抽真空时只能达到 80 mbar 的压力. 为了在如此高的工作压力之下依然能够进行检漏, 推荐选用上海伯东氦质谱检漏仪 ASM 340. ASM 340 检漏仪特有的定性大漏检测模式 ( 在 100 hPa 即可进行大漏测试 ) , 借助此模式即可定位存在的漏点.

  检漏仪 模式 系统

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• 发布了文章 2023-08-07 14:28

  Gel-Pak VR真空释放盒应用于50V GaN HEMT 芯片

  

  50V GaN HMET 芯片采用上海伯东美国 Gel-Pak VR 真空释放盒进行包装, Gel-Pak 采用了无残胶的膜技术, 可以将芯片牢固地固定住, 避免在运输和储存过程中因为碰撞等造成芯片的损害.

  GaN SiC 芯片

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