中图仪器

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• 发布了产品 2022-04-07 15:22

  白光干涉仪在半导体的应用

  

  产品型号：SuperView W1 光学ZOOM：0.5×，（0.75×，1×可选） 干涉物镜：10×，（2.5×，5×，20×，50×，100×可选） Z轴行程：100mm，电动

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• 发布了产品 2022-04-07 14:55

  白光干涉仪应用实例

  

  产品型号：SuperView W1 影像系统：1024×1024 光学ZOOM：0.5×，（0.75×，1×可选） XY平台：尺寸320×200mm，行程140×110mm，电动、手动同

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• 发布了产品 2022-04-07 14:39

  白光干涉仪的应用场景

  

  产品型号：SuperView W1 XY平台：尺寸320×200mm，行程140×110mm，电动、手动同 Z轴行程：100mm，电动 Z向扫描范围：10mm

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• 发布了产品 2022-04-06 17:48

  国内光学影像仪测量

  

  产品型号：CH系列 X轴行程范围：（300-1200）mm Y轴行程范围：（200-1500）mm Z轴行程范围：200mm

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• 发布了产品 2022-04-06 17:42

  高配测量影像仪特点

  

  产品型号：CH系列 X轴行程范围：（300-1200）mm Y轴行程范围：（200-1500）mm Z轴行程范围：200mm

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• 发布了产品 2022-04-06 17:35

  全自动光学影像量测仪

  

  产品型号：CH系列 X轴行程范围：（300-1200）mm Y轴行程范围：（200-1500）mm Z轴行程范围：200mm

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• 发布了文章 2022-04-03 00:49

  有图晶圆关键尺寸及套刻量测系统助力半导体产业发展

  

  有图晶圆关键尺寸及套刻量测系统可对Wafer的关键尺寸进行检测，对套刻偏移量的测量，以及Wafer表面3D形貌、粗糙度的测量，包括镭射切割的槽宽、槽深等自动测量。300*300mm真空吸附平台，最大可支持12寸Wafer的自动测量，配置扫描枪，可实现产线的全自动化生产需求。一.系统的布局结构1.上料/下料区：Robot自动抓取Wafer至寻边器平台；2.定位

  监测系统

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• 发布了文章 2022-04-02 15:30

  白光干涉仪自动拼接测量功能的应用场景

  

  场景一上图是涂覆在电极棒的催化剂表面全景图，整体尺寸在7mm左右，中心的催化剂区域呈低反射率特点，而圆环外呈高反射率特点，整体的轮廓尺寸和微观的轮廓起伏反映了涂覆的质量。根据客户精度要求，SuperViewW1白光干涉仪可将重建算法切换为高速扫描的FVSI重建算法，并可依据表面粗糙程度，选择不同步距进行速度调节。场景二上图是一款旋转抛物面零件，用于微小位移和

  测量 干涉仪

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• 发布了产品 2022-04-02 15:23

  WX-100白光干涉仪测头

  

  产品型号：WX-100 注释：更多详细产品信息，请联系我们获取

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• 发布了产品 2022-04-02 15:20

  中图仪器白光干涉仪有什么特点

  

  产品型号：SuperViewW1 注释：更多详细产品信息，请联系我们获取

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