中图仪器

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• 发布了产品 2023-10-27 11:23

  白光干涉光学测厚仪

  

  产品型号：SuperViewW1 注释：如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

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• 上传了资料 2023-10-26 10:54

  台阶仪和轮廓仪区别

  表面轮廓仪

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• 上传了资料 2023-10-26 10:51

  WD4000无图晶圆检测机：助力半导体行业高效生产的利器

  半导体晶圆 晶圆 表面检测

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• 发布了方案 2023-10-26 10:47

  白光干涉仪(光学轮廓仪)：揭秘测量坑的形貌的利器！

  

  SuperViewW1白光干涉仪结合数字图像处理技术和三维重建算法来提高测量的精度和效率，揭秘并测量坑的形貌，为科学研究和工程实践提供更有力的支持。

  光学 器件 测量 白光干涉仪 表面轮廓仪

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• 发布了产品 2023-10-25 13:42

  一键快速影像测量仪

  

  产品型号：VX8000系列 注释：如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

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• 发布了产品 2023-10-25 13:37

  探针式台阶轮廓仪

  

  产品型号：CP200 注释：如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

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• 发布了文章 2023-10-25 13:31

  WD4000无图晶圆检测机：助力半导体行业高效生产的利器

  

  WD4000无图晶圆检测机集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组，非接触厚度、三维维纳形貌一体测量，使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的测量，助力半导体行业高效生产！

  半导体 半导体晶圆 晶圆 检测机

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• 发布了文章 2023-10-25 13:29

  台阶仪和轮廓仪区别是什么？

  

  台阶仪和轮廓仪在工业制造领域的区别和应用领域解析测量和检测是工业制造领域的重要环节，而台阶仪和轮廓仪则是各有其特点和应用范围的两种仪器。台阶仪和轮廓仪区别在哪？一、台阶仪1、产品概述台阶仪是一种接触式表面形貌测量仪器。它是利用光学干涉原理，对微米和纳米结构进行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波纹和表面粗糙度等的测量。2、产品特点台阶仪在工业生产中，常用来保证产

  仪器 工业 测量仪器 表面轮廓仪

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• 发布了文章 2023-10-24 16:28

  一键式影像测量仪能测出什么？

  

  尺寸较小的产品及零部件需要批量测量时，一键式影像测量仪则是一个很好的选择。一键式影像测量仪为企业打开了高精度、高效率测量的大门，并很大限度地为客户简化了测量过程。

  仪器 影像 测量仪

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• 发布了文章 2023-10-24 09:42

  一种晶圆表面形貌测量方法-WD4000

  

  WD4000无图晶圆几何量测系统自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。1、使用光谱共焦对射技术测量晶圆Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI等参数，同时生成Mapping图；2、采用白光干涉测量技术对Wafer表面进行非接触式扫描同时建立表面3D层析图像，显示2D剖面图和3D立体彩色视图，高效分析表

  半导体 晶圆 测量

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