您好,欢迎来电子发烧友网! ,新用户?[免费注册]

您的位置:电子发烧友网>电子元器件>电池>太阳能电池>

缺陷对杂质的吸收 - 单晶硅缺陷的分析

2012年06月06日 15:33 湖南科技学院学报 作者:秩名 用户评论(0

 

  而同一晶面在不同的腐蚀剂中腐蚀,位错坑的形态也不完全一样;甚至腐蚀长短也影响到位错坑的形态。比如在非择优腐蚀剂(如Dash腐蚀剂)情况下硅单晶《111》面位错坑为圆形的凹坑;在晶向择优腐蚀剂中硅单晶《111)面位错呈三角形锥体,这是由于择优腐蚀剂在晶体中的各个方向的腐蚀速度不同所造成的。如图4、图5所示,硅单晶《111》在被不同的腐蚀液腐蚀后显示出不同的形状。

  

  

  2.2 缺陷对杂质的吸收

  位错是一种线状的高应力区,有吸收杂质原子的能力,引起沿位错线的局部地区杂质浓度增加。这种作用将严重影响到器件工艺的控制,并从而影响到器件性能和成品率的提高等。

  

  从以上两幅图中可以明显的看到,缺陷存在的地方,有明显的金属色,这是吸收了金属杂质的缘故。这两张图片很好的说明了缺陷对杂质的吸收作用。

非常好我支持^.^

(0) 0%

不好我反对

(0) 0%

( 发表人:辰光 )

      发表评论

      用户评论
      评价:好评中评差评

      发表评论,获取积分! 请遵守相关规定!